[发明专利]一种材料微观变形的测试方法有效
申请号: | 201710136812.2 | 申请日: | 2017-03-09 |
公开(公告)号: | CN106644704B | 公开(公告)日: | 2019-02-22 |
发明(设计)人: | 张昌盛;庞蓓蓓;张莹;王云;王虹;李建;孙光爱 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 |
主分类号: | G01N3/06 | 分类号: | G01N3/06;G01B15/06;G01B17/04 |
代理公司: | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人: | 翟长明;韩志英 |
地址: | 621999 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 材料 微观 变形 测试 方法 | ||
1.一种材料微观变形的测试方法,其特征在于:所述的测试方法中采用的测量设备及其连接关系如下:应力加载装置(1)放置在承重台(2)上,夹具(4)连接到应力加载装置(1),样品(3)安装到夹具(4)上;声探头Ⅰ(5)和声探头Ⅱ(12)分别布置在样品(3)的两侧呈对称分布,均连接至声探测工控机(9);射线源(16)和探测器(21)分别布置于应力加载装置(1)的两侧;射线源(16)的中心、应力加载装置(1)的加载轴中心和探测器(21)的中心三者处于同一水平高度;应力加载装置(1)的加载轴中心和承重台(2)的中心重合;
所述的测试方法包括以下步骤:
a. 进行对称式衍射实验布局
将应力加载装置(1)安放在承重台(2)上,并将射线源(16)和探测器(21)分别布置于应力加载装置(1)的两侧呈对称分布;
b. 进行双通道声探测布置
将样品(3)安装到应力加载装置(1)上,并将声探头Ⅰ(5)和声探头Ⅱ(12)分别安装到样品(3)两侧呈对称分布,经前置放大器Ⅰ(7)和前置放大器Ⅱ(14)后依次连接到声探测工控机(9)上;
c. 应力加载前衍射测量
根据样品(3)的晶体结构选定测量晶面,并调节探测器(21)和承重台(2)的位置使样品(3)的加载方向始终为入射束(18)和出射束(19)之间夹角的平分线方向,再进行衍射实验测量;
d. 应力加载下衍射测量和声探测
开启声探测工控机(9),开始逐渐进行应力加载至设定值,同时进行衍射实验测量,衍射信号收集完毕后,继续施加应力至下一个设定值;
e. 不同应力状态下测量
在设定的应力值下,继续进行衍射实验测量,重复步骤d,直至所有应力状态全部测试完毕,整个过程中声探测工控机(9)始终处于工作状态;
f. 测量完成
确认整个应力加载过程衍射实验和声探测均已测量后,对测试现场整理归位,取已自动存储于计算机中的衍射和声探测信号进行分析处理,分别得到材料内部静态和动态微观变形的数据信息。
2.根据权利要求1所述的一种材料微观变形的测试方法,其特征在于:在步骤b中,对片状的样品(3),采用声探头Ⅰ(5)和声探头Ⅱ(12)两侧对称安装的布置方式,对圆棒状的样品(22),则采用波导管Ⅰ(23)、波导管Ⅱ(24)分别内置声探头Ⅰ(5)、声探头Ⅱ(12)且两端对称安装的布置方式。
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