[发明专利]使用辐射的物体的金属可靠性检测

权利要求书

1.一种方法，包括：

将x射线激励射束引导至感兴趣的物品的至少一部分上，该x射线激励射束使感兴趣的物品荧光性发出各种能量下的x射线；

测量对应于金的第一能量的强度，根据从感兴趣的物品荧光性发出的x射线来识别该第一能量；

测量对应于金的第二能量的强度，根据从感兴趣的物品荧光性发出的x射线来识别该第二能量；

计算第一能量的强度和第二能量的强度之间的所测量的强度的比值；以及

响应于识别所计算的比值大于预定值，产生感兴趣的物品是镀金的指示。

2.根据权利要求1所述的方法，其中该预定值是表示大于约15微米的金厚度的金谱线强度比值，其中所计算的比值大于预定值指示了金的厚度小于约15微米。

3.根据权利要求1所述的方法，其中该预定值是大约0.84的比值，并且所计算的比值大于0.84。

4.根据权利要求3所述的方法，其中该预定值是第一预定值，该方法进一步包括：

响应于识别所计算的比值小于第二预定值，指示该感兴趣的物品是镀金的。

5.根据权利要求4所述的方法，其中该第二预定值是大约0.60的比值。

6.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

分析从感兴趣的物品荧光性发出的x射线的光谱以识别感兴趣的物品中的金相对于感兴趣的物品中的其他元素的百分比成分；以及

响应于识别感兴趣的物品中的金的含量小于约33％，确认该感兴趣的物品是镀金的。

7.根据权利要求6所述的方法，进一步包括：

通过分析从感兴趣的物品荧光性发出的x射线的光谱，从感兴趣的物品中识别镍相对于感兴趣的物品中的其他元素的百分比成分；以及

响应于识别镍的含量大于约10％，确认该感兴趣的物品是镀金的。

8.根据权利要求6所述的方法，进一步包括：

其中识别金的百分比成分包括使用能量分散XRF（X射线荧光）分析仪或波长分散XRF分析仪来执行对感兴趣的物品的元素成分的全分析。

9.根据权利要求5所述的方法，进一步包括：

分析从感兴趣的物品荧光性发出的x射线的光谱以从感兴趣的物品中识别银相对于感兴趣的物品中的其他元素的百分比成分；

响应于识别银的含量小于约20％，指示该感兴趣的物品是镀金的黄铜；以及

响应于识别银的含量大于约20％，指示该感兴趣的物品是镀金的黄铜或镀金的银。

10.根据权利要求1所述的方法，其中感兴趣的物品是珠宝。

11.根据权利要求10所述的方法，其中第一能量的x射线对应于金的 Lα谱线，并且其中第二能量的x射线对应于金的Lβ谱线。

12.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

除了指示感兴趣的物品是镀金的，还指示感兴趣的物品上的镀金的近似厚度。

13.一种x射线荧光（XRF）分析仪，包括：

x射线源，其生成要被引导至感兴趣的物品的至少一部分上的x射线激励射束；

x射线检测器，其被放置成接收从感兴趣的物品发出的x射线，该发出的x射线包括对应于金的第一能量下的荧光性发出的x射线，该发出的x射线还包括对应于金的第二能量下的荧光性发出的x射线，该x射线检测器产生指示荧光性发出的x射线的强度的信号；

信号处理器，其被耦合至该x射线检测器，该信号处理器计算第一能量的强度和第二能量的强度之间的所测量的强度的比值；以及

显示器，响应于信号处理器识别所计算的比值大于预定值，指示该感兴趣的物品是镀金的。

14.根据权利要求13所述的XRF分析仪，其中该预定值是表示大于约15微米的金厚度的金谱线强度比值；以及

其中所计算的比值大于预定值指示了金的厚度小于约15微米。

15.根据权利要求13所述的XRF分析仪，其中该预定值是大约0.84的阈值比值，并且所计算的比值大于大约0.84。

16.根据权利要求15所述的XRF分析仪，其中响应于信号处理器识别所计算的比值小于第二预定值，显示器进一步指示该感兴趣的物品是镀金的，该第二预定值是大约0.60的比值。