[发明专利]一种β-γ混合辐射场中H'(3)的测算方法有效
申请号: | 201710137539.5 | 申请日: | 2017-03-09 |
公开(公告)号: | CN108572381B | 公开(公告)日: | 2022-05-17 |
发明(设计)人: | 韦应靖;商洁;以恒冠;唐智辉;李强;谷伟刚;杨波;赵佳辉 | 申请(专利权)人: | 中国辐射防护研究院 |
主分类号: | G01T1/02 | 分类号: | G01T1/02 |
代理公司: | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人: | 任晓航;周敏毅 |
地址: | 030006 山*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 混合 辐射 测算 方法 | ||
1.一种β-γ混合辐射场中的测算方法,其特征在于,所述的测算方法包括如下步骤:
1)通过监测仪测量数值,经修正得到修正的数值,根据修正的数值确定γ射线贡献的定向剂量当量率
2)通过β谱测量,确定监测仪在β辐射场中的校准因子Nβ值;
3)通过γ谱测量,确定监测仪在γ辐射场中的校准因子Nγ值;
4)根据监测仪的直接测量数值,结合Nβ和Nγ值,计算出β射线贡献的定向剂量当量率
5)与相加,得到测量位置的值,
其中:
步骤2)中所述的Nβ值的确定方法为:使用实验室β参考辐射装置校准监测仪,在该标准纯β辐射场中的校准因子作为Nβ值,
所述的纯β辐射场为90Sr-90Y或106Ru-106Rh的辐射场,
步骤3)中所述的Nγ值的确定方法为:使用γ谱仪测量出β-γ混合辐射场现场γ射线能谱,或从β-γ混合辐射场现场取样后测量出γ能谱,可知所测场所γ射线能量,结合监测仪在标准X、γ辐射场中校准结果,找出标准辐射场中与现场相近能量点的校准因子,则该校准因子就为监测仪在该实际测量点处的Nγ值,
在40keV-1.5MeV范围内,当监测仪对γ射线能量响应好于±30%,如果所测场所γ辐射能量种类多,且这些γ射线能量在40keV-1.5MeV范围内时,可选择监测仪在137Cs辐射场中校准给出的校准因子作为计算使用的Nγ值,
步骤4)中的计算方法如下公式(3)所示:
其中,M为监测仪直接测量值。
2.根据权利要求1所述的测算方法,其特征在于:步骤1)中所述的监测仪的性能满足JJG393-2003要求。
3.根据权利要求1所述的测算方法,其特征在于,步骤1)中所述的修正的方法为:对于在40keV-1.5MeV范围内能量响应好于±30%,在其有效量程内剂量率线性好于±10%的监测仪,根据标准辐射场中对监测仪进行检定/校准的结果,用监测仪直接测量的数值乘以检定/校准所得的校准因子,就可得出测量点的修正的数值。
4.根据权利要求1所述的测算方法,其特征在于,步骤1)中所述的修正的方法为:
对于在40keV-1.5MeV范围内能量响应超过±30%的监测仪,根据该监测仪在X、γ标准辐射场中检定/校准结果,可得出监测仪测量不同能量X、γ射线辐射场的校准因子;
根据现场γ测量谱,可知所测γ射线的能量特性,可在标准辐射场校准结果中找到该能量点监测仪测量结果的校准因子,监测仪直接测量值乘以该校准因子,就可得出测量点的修正的数值。
5.根据权利要求1所述的测算方法,其特征在于:步骤1)中当β-γ混合辐射场中放射性核素发射的γ射线能量在40keV以上时,修正的数值即为值。
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