[发明专利]一种数据存储的方法及存储设备

说明书

本申请公开了一种数据存储的方法及存储设备，方法包括：将N个存储单元中的每个存储单元中存储的完整性校验值进行校验运算得到第一校验值，并将第一校验值存储到除所述N个存储单元外的一个或多个存储单元。再将除所述N个存储单元外每个存储单元中存储的完整性校验值进行校验运算得到第二校验值，并将第二校验值存储到N个存储单元中的一个或多个存储单元。

技术领域

本申请涉及存储技术领域，尤其涉及一种数据存储的方法及存储设备。

背景技术

为了提高数据安全性，现有技术中通常会应用独立磁盘冗余阵列(RedundantArrays of Independent Disks，RAID)冗余保护技术。RAID冗余保护技术是指，将待存储数据切割成多个数据块，并对这些数据块进行冗余计算得到校验块，再将这些数据块和校验块分别存放在不同的硬盘上。这样，当硬盘阵列中任意一个硬盘发生故障导致该硬盘上的数据块损坏时，可从其他硬盘中读出其他数据块和校验块，通过执行数据重构过程修复损坏的数据块。

其中，为了检查数据是否损坏，美国国家标准学会(American NationalStandards Institute，ANSI)制定的T10标准定义了一种数据完整性检查方法：数据写入硬盘时，采用如图1所示的数据结构，即在数据末尾增加8个字节的附加部分，该附加部分在硬盘中的区域为数据完整性域(Data Integrity Field，DIF)。DIF包含一个2字节的循环冗余校验(Cyclic Redundancy Check,CRC)字段、一个2字节的逻辑块应用(Logical BlockApplication，LBA)标签和一个4字节的逻辑块参考(Logical Block Reference，LBR)标签。其中，CRC字段用于存储采用T10标准规定的CRC算法对数据计算得出的完整性校验值。当从硬盘上读数据时，可以通过对读出的数据进行计算得出完整性校验值，并将该完整性校验值与DIF中存储的CRC字段的完整性校验值进行比较。如果相等，则说明数据是完整的，没有损坏。如果不相等，则说明数据或者DIF区有数据损坏。

因此，如图2所示，对应用了基于RAID冗余保护技术的存储设备中的数据采用T10标准定义的DIF格式进行完整性验证时，在存入数据块和RAID校验数据的同时也分别会存入数据和RAID校验数据的完整性校验值。但是，当数据丢失时，基于RAID技术，可以进行恢复，但数据对应的完整性校验值丢失却无法修复，从而无法实现对已存入数据的完整性检查。

发明内容

本申请实施例提供一种数据存储的方法及存储设备，能够解决当数据丢失时，基于RAID技术，可以进行恢复，但数据对应的完整性校验值却无法修复，从而无法实现对已存入数据的完整性检查。

为达到上述目的，本申请的实施例采用如下技术方案：

第一方面，提供一种数据存储的方法，应用于存储设备中，存储设备包含M个存储单元，每一个存储单元中存储有数据和该数据的完整性校验值，并且这M个存储单元中存储的数据之间存在校验关系，该方法具体包括：将N个存储单元中的每个存储单元中存储的完整性校验值进行校验运算得到第一校验值，并将第一校验值存储到除上述N个存储单元外的一个或多个存储单元。再将除上述N个存储单元外每个存储单元中存储的完整性校验值进行校验运算得到第二校验值，并将第二校验值存储到N个存储单元中的一个或多个存储单元。

其中，M为大于等于2的整数，N为大于等于1小于M的整数。校验运算可以为RAID校验算法，也可以为纠删码(Erasure Code，EC)运算。第一校验值和第二校验值的个数可以为一个和多个。