[发明专利]基于光学测微原理的高精度量尺在审
| 申请号： | 201710146901.5 | 申请日： | 2017-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN108020166A | 公开（公告）日： | 2018-05-11 |
| 发明（设计）人： | 廖孟光;李羲;李朝奎;易四海 | 申请（专利权）人： | 湖南科技大学 |
| 主分类号： | G01B11/08 | 分类号： | G01B11/08;G01B11/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 411201 *** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 光学 原理 高精度 | ||
【权利要求书】：
1.基于光学测微原理的高精度量尺，其特征为包括若干短尺和光学测微器，短尺按其横截面大小共轴地串接成一伸缩体，光学测微器安装在两段短尺连接处横截面较大的短尺上，对准横截面较小的短尺上的刻度，量尺两端平行轴线方向各具有长度一定的内测端，垂直轴线方向各具有长度一定的外测端。
2.根据权利要求1中所述的基于光学测微原理的高精度量尺，其特征为所有短尺中，横截面最小的短尺为空心或实心，其它短尺均为空心。
3.根据权利要求1中所述的基于光学测微原理的高精度量尺，其特征为短尺的数量是三段，光学测微器的数量是二个，光学测微器的底部是透明玻璃基座。
4.根据权利要求1或3中所述的基于光学测微原理的高精度量尺，其特征为短尺的刻度位于凹陷的刻度槽内。
5.根据权利要求1或3中所述的基于光学测微原理的高精度量尺，其特征为短尺的横截面为正三角形。
6.根据权利要求1或3中所述的基于光学测微原理的高精度量尺，其特征为量尺缩短时长度为2.0-3.5m，伸长时长度为缩短时的三倍。
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