[发明专利]全偏振测量显微镜

权利要求书

1.一种全偏振测量显微镜，其特征在于，包括沿入射光方向依次设置的准直透镜、滤波片、物镜、偏振调制组合、成像镜以及CCD相机，待测样品设置在所述滤波片和所述物镜之间，所述物镜和成像镜具有放大倍数；

其中，所述偏振调制组合包括沿入射光方向依次设置的第一改进型萨瓦偏光镜、半波片、第二改进型萨瓦偏光镜以及偏振片；

光源发出的光通过准直透镜后变成入射方向为Z轴的平行光，所述平行光经过所述滤波片后变成窄带平行光照射到待测样品上，物镜收集穿过待测样品的透射光，所述透射光经过所述第一改进型萨瓦偏光镜后分解成振动方向分别为X轴和Y轴的两束等强度振动的、互相垂直的线偏振光，所述两束线偏振光穿过快轴方向为22.5°的半波片后偏振方向沿着顺时针方向旋转45°，再经过所述第二改进型萨瓦偏光镜后被分解成振动方向分别沿X轴和Y轴的等强度振动的四束线偏振光，经过偏振方向为与X轴正方向成22.5°的偏振片后，所述四束线偏振光的偏振方向取向均相同，所述四束线偏振光经过成像镜，即在CCD相机上形成干涉图像；

所述第一改进型萨瓦偏光镜和所述第二改进型萨瓦偏光镜均包括等厚度的第一单轴晶板、第二单轴晶板以及设置在所述第一单轴晶板和所述第二单轴晶板之间的半波板，所述第一单轴晶板和所述第二单轴晶板的光轴均在XZ平面且与Z轴成45°角，第一单轴晶板的光轴取向分别与X、Z轴正向成45°角；第二单轴晶板的光轴取向分别与X轴正向、Z轴负向成45°角，所述第一单轴晶板和所述第二单轴晶板的光轴互相垂直，所述半波板的光轴与X、Y轴正向成45°角；

所述干涉图像的强度由公式1表示：

其中，所述S0、S1、S2以及S3分别为四束线偏振光的Stokes分量，Ω为所述偏振调制组合的载频，x_i为像面处横坐标、y_i为像面处纵坐标。

2.如权利要求1所述的全偏振测量显微镜，其特征在于，所述物镜为放大倍数为10X、20X、40X的物镜中的一种。

3.如权利要求1所述的全偏振测量显微镜，其特征在于，还包括用于显微镜图像采集时光学输出的摄影输出端口。