[发明专利]一种折射率分布测量的折光计有效
申请号: | 201710148080.9 | 申请日: | 2017-03-14 |
公开(公告)号: | CN108572160B | 公开(公告)日: | 2020-05-19 |
发明(设计)人: | 夏珉;罗运;郭文平;陈俊尧;李微;杨克成 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01N21/41 | 分类号: | G01N21/41 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 王世芳;曹葆青 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 折射率 分布 测量 折光 | ||
1.一种折射率分布测量的折光计,其特征在于,其包括:
光源单元(1),用于产生平行光,
光路调节单元(2),用于根据设定的测量范围调节所述平行光光束大小,还用于调节所述平行光光束方向以使光束垂直入射至探测单元,
探测单元,其包括棱镜(4)和透镜阵列(3),所述透镜阵列贴合设置在所述棱镜的一个侧面上,所述透镜阵列用于接受来自所述光路调节单元的平行光束,所述棱镜的底面贴合于待测对象(5)的界面上,
图像采集及处理单元(6),所述图像采集及处理单元用于接收从所述棱镜的另一个侧面出射的光斑,还用于对所述光斑进行图像处理,进而获得待测对象的折射率。
2.如权利要求1所述的一种折射率分布测量的折光计,其特征在于,所述透镜阵列包括多个规格相同且边缘相切以形成阵列排布的透镜。
3.如权利要求1所述的一种折射率分布测量的折光计,其特征在于,所述透镜阵列包括多个规格相同且边缘相隔设定距离以形成阵列排布的透镜。
4.如权利要求2或3所述的一种折射率分布测量的折光计,其特征在于,所述透镜阵列包括至少两个规格相同的透镜。
5.如权利要求1所述的一种折射率分布测量的折光计,其特征在于,所述光源单元包括平行光光源和扩束透镜组,所述平行光光源和所述扩束透镜组同轴设置。
6.如权利要求5所述的一种折射率分布测量的折光计,其特征在于,所述扩束透镜组为伽利略系统或者开普勒系统。
7.如权利要求5所述的一种折射率分布测量的折光计,其特征在于,所述光路调节单元包括第一反射镜(21)和第二反射镜(22),所述第一反射镜(21)和所述第二反射镜(22)平行设置。
8.如权利要求1所述的一种折射率分布测量的折光计,其特征在于,图像采集及处理单元包括透镜组、阵列传感器以及图像处理计算机,所述透镜组用于接收从所述棱镜的另一个侧面出射的光斑,并用于将该光斑传输给所述阵列传感器,所述阵列传感器用于将所述光斑转化为图像信号并传输给所述图像处理计算机,所述图像处理计算机用于处理所述图像信号以获得待测对象的折射率分布。
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