[发明专利]一种基于模型校准的喷漆轨迹规划方法

权利要求书

1.一种基于模型校准的喷漆轨迹规划方法，其特征在于，所述基于模型校准的喷漆轨迹规划方法包括以下步骤：

步骤一：利用光投影模块将标准轨迹投射到对应待喷涂工件表面；

步骤二：利用摄像头采集模块获取投射到待喷涂工件表面的轨迹，即空间轨迹；

步骤三：对比步骤二获得的空间轨迹与标准轨迹，建立关键点的对应关系；所述关键点指的是轨迹规划过程中选取的采样点；

步骤四：根据关键点对应关系，对原轨迹规划方法进行参数a(t)校准，所述a(t)为喷枪的轨迹；

所述步骤一中的标准轨迹具体是指利用时间最优规划方法或最均匀涂层厚度规划方法对标准工件进行轨迹规划所获得的轨迹；

S_h＝{(x,y,z)}

其中z＝h(x,y)表示高度；x,y表示喷漆中每一点的位置坐标。

2.根据权利要求1所述的一种基于模型校准的喷漆轨迹规划方法，其特征在于，所述步骤二中的空间轨迹具体是指利用红外结构光的三维成像原理，形成的轨迹；

S_h'＝{(x',y',z')}

其中x',y'表示利用红外结构光的三维成像原理的喷漆中每一点的位置坐标，z'＝h(x',y')表示高度。

3.根据权利要求2所述的一种基于模型校准的喷漆轨迹规划方法，其特征在于，所述步骤三中对应关系的建立方法为基于点标号的匹配方法。

4.根据权利要求3所述的一种基于模型校准的喷漆轨迹规划方法，其特征在于，所述步骤四中原轨迹规划方法具体为基于时间最优规划方法和最均匀涂层厚度规划方法。

5.根据权利要求4所述的一种基于模型校准的喷漆轨迹规划方法，其特征在于，所述步骤四中对原轨迹规划方法进行参数a(t)校准的具体过程为：

最均匀涂层厚度规划方法的目标函数为：

其中所述Vs_h为每一点喷漆厚度相对于平均值的方差，fs_h(a(t))为t时刻整个工件的喷漆量，f^avgs_h(a(t))为平均喷漆厚度，As_h为工件的表面积；

当式中的s_h变为s_h'时，使Vs_h最小，得到的a(t)用a(t)'表示，即得到的校准后的参数。