[发明专利]一种频率特性测试仪

说明书

技术领域

本发明涉及一种频率特性测试仪。

背景技术

在电路测试中，常常需要测试频率特性，电路的频率特性体现了放大器的放大性能与输入信号频率之间的关系，频率特性测试仪是显示被测电路幅频、相频特性曲线的测量仪器。传统扫频仪进仅价格昂贵、体积庞大，而且只能显示幅频特性曲线，进能得到相频特性曲线，更进能打印被测网络的频响曲线给使用带来诸多进便，为此，本发明提出一种频率特性测试仪解决此问题。具有测量范围宽、精度高、使用方便等特点。

发明内容

本发明的目的在于提供一种频率特性测试仪，以解决现有技术中导致的上述多项缺陷。

本发明采用以下技术方案：

为达到上述目的，本发明提供一种频率特性测试仪，包括PC机、通信接口、单片机、数控扫频信号源、A/D转换模块、相位差测量模块、被测电路、峰值检波和衰减，所述PC机通过通信接口与单片机连接；所述数控扫频信号源分别与相位差测量模块、被测电路和衰减连接；所述被测电路与衰减连接；所述衰减与峰值检波连接；所述峰值检波通过A/D转换模块与单片机连接；所述衰减通过相位差测量模块与单片机连接。

本发明的有益效果：

提供了一种频率特性测试仪，通过PC机上的软面板输入测试信号的频率范围、信号幅度、扫频方式和输入的衰减系数等参数，从PC机接收指令和数据，控制扫频信号源产生所需要的扫频信号，同时控制幅度测量和相位差测量，经分析处理，再显示测量结果或打印测量结果。

附图说明

图1是本发明的结构示意图。

具体实施方式

下面将阐述本发明的具体实施方式。

如图1所示，一种频率特性测试仪，包括PC机1、通信接口2、单片机3、数控扫频信号源4、A/D转换模块5、相位差测量模块6、被测电路7、峰值检波8和衰减9，所述PC机1通过通信接口2与单片机3连接；所述数控扫频信号源4分别与相位差测量模块6、被测电路7和衰减9连接；所述被测电路7与衰减9连接；所述衰减9与峰值检波8连接；所述峰值检波8通过A/D转换模块5与单片机3连接；所述衰减9通过相位差测量模块6与单片机3连接。

本发明，通过PC机上的软面板输入测试信号的频率范围、信号幅度、扫频方式和输入的衰减系数等参数，从PC机接收指令和数据，控制扫频信号源产生所需要的扫频信号，同时控制幅度测量和相位差测量，经分析处理，再显示测量结果或打印测量结果。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。