[发明专利]精切块状产品检测装置

权利要求书

1.精切块状产品检测装置，包括第一机架(11)和第二机架(12)，其特征在于：所述第一机架(11)上从输入端至输出端依次设置有入料机构(1)、尺寸检测机构(2)、第一底部平面度检测机构(3)、第二底部平面度检测机构(4)和第一不合格品推出机构(5)，第一机架(11)上设置有将产品依次搬至尺寸检测机构(2)、第一底部平面度检测机构(3)、第二底部平面度检测机构(4)和第一不合格品推出机构(5)的第一搬运机构(16)；

所述第二机架(12)包括依次设置的第一产品传输线(6)、硬度检测机构(7)、缓存传输线(8)、压痕检测机构(9)和第二不合格品推出机构(10)，第二机架(12)上还设置有将产品从第一产品传输线(6)搬运至硬度检测机构(7)和将产品从硬度检测机构(7)推至缓存传输线(8)的第二搬运机构(17)，缓冲传输线一侧设置有将产品从缓存传输线(8)依次搬运至压痕检测机构(9)和第二不合格品推出机构(10)的第三搬运机构(18)；

还包括将产品从第一机架(11)搬运至第一产品传输线(6)的第四搬运机构(19)；

所述尺寸检测机构(2)包括第一检测平台(21)，所述第一检测平台(21)的一个侧面设置有阻挡凸起，所述检测平台的另外三个侧面均设置有多个第一接触式位移传感器(22)和控制多个第一接触式位移传感器(22)向第一检测平台(21)运动的第一驱动机构(23)；

所述第一底部平面度检测机构(3)包括第二检测平台(31)，所述第二检测平台(31)一侧设置有阻挡凸起，所述第二检测平台(31)另一侧设置有第一定位气缸(32)，所述第二检测平台(31)下方设置有伸出第二检测平台(31)的第二接触式位移传感器(35)，所述第二检测平台(31)上方设置有第一下压机构(33)，还包括驱动第一下压机构(33)运动至第二检测平台(31)上方和远离第二检测平台(31)的第一伸出机构(34)，当第一下压机构(33)位于第二检测平台(31)上方时，第一下压机构(33)的铅垂线和第二接触式位移传感器(35)的铅垂线位于第二检测平台(31)的两个斜对角上；

所述第二底部平面度检测机构(4)包括第三检测平台(41)，所述第三检测平台(41)一侧设置有阻挡凸起，所述第三检测平台(41)另一侧设置有第二定位气缸(42)，所述第三检测平台(41)下方设置有伸出第三检测平台(41)的第三接触式位移传感器，所述第三检测平台(41)上方设置有第二下压机构(43)，还包括驱动第二下压机构(43)运动至第三检测平台(41)上方和远离第三检测平台(41)的第二伸出机构(44)，当第二下压机构(43)位于第三检测平台(41)上方时，第二下压机构(43)的铅垂线和第三接触式位移传感器的铅垂线位于第三检测平台(41)的两个斜对角上；所述第一下压机构(33)和第二下压机构(43)分别下压产品的不同位置。

2.如权利要求1所述的精切块状产品检测装置，其特征在于：所述第一不合格品推出机构(5)包括第一推出放置平台(51)，所述第一推出放置平台(51)的四周分别设置有第一合格品推出气缸(52)，第一不合格品推出气缸(53)、第一不合格品放置平台(55)和第一合格品放置平台(54)，使得第一合格品推出气缸(52)可将产品推至第一合格品放置平台(54)，第一不合格品推出气缸(53)可将产品推至第一不合格品放置平台(55)，所述第一合格品放置平台(54)两侧分别设置有将产品调整至第四搬运机构(19)下方的调整气缸(56)和螺纹调整机构(57)。

3.如权利要求1所述的精切块状产品检测装置，其特征在于：所述硬度检测机构(7)包括多个硬度检测平台，所述每个硬度检测平台上方均设置有压向产品的硬度计。

4.如权利要求3所述的精切块状产品检测装置，其特征在于：所述第一产品传输线(6)包括多个光电传感器和阻挡器，所述光电传感器和阻挡器与多个硬度检测平台一一对应。