[发明专利]一种真空紫外波段像增强器光谱响应测试系统在审
申请号: | 201710150648.0 | 申请日: | 2017-03-14 |
公开(公告)号: | CN106950037A | 公开(公告)日: | 2017-07-14 |
发明(设计)人: | 钱芸生;张翔;姜云龙;张益军;潘治云;李永春 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01R31/00 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心32203 | 代理人: | 马鲁晋 |
地址: | 210094 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 真空 紫外 波段 增强 光谱 响应 测试 系统 | ||
1.一种真空紫外波段像增强器光谱响应测试系统,其特征在于,包括顺次连接的氘灯[1]、能量优化器[2]、滤波片轮[3]、真空紫外单色仪[4]、准直器[5]、斩波器[6]和样品室[7];
氘灯[1]发出全光谱的光线依次通过能量优化器[2]、滤波片轮[3]、真空紫外单色仪[4]、准直器[5]、斩波器[6]后到达样品室[7],其中能量优化器[2]对入射光线光进行光学优化,滤波片轮[3]对入射光线进行滤波以保证光路中没有杂散光,真空紫外单色仪[4]对入射光线进行处理得到单色光,准直器[5]对入射光进行准直处理,斩波器[6]将入射光变成固定频率的交流光信号,样品室[7]内设置像增强器及其夹具;
斩波器[6]工作时为交流测试模式,斩波器[6]发出的光线为交流光信号,对样品进行测量的器件包括依次连接的交流放大电路、锁相放大器、工控机;
斩波器[6]不工作时为直流测试模式,斩波器[6]发出的光线为直流光信号,对样品进行测量的器件为依次连接的直流电流计和工控机。
2.根据权利要求1所述的真空紫外波段像增强器光谱响应测试系统,其特征在于,样品室[7]内还包括用于定标的硅光电池。
3.根据权利要求1所述的真空紫外波段像增强器光谱响应测试系统,其特征在于,样品室[7]内的用于固定像增强器的夹具包括第一样品前面板支撑件[8]、第二样品前面板支撑件[9]、第三样品前面板支撑件[11]、接电环[10]、样品夹紧块[12]、固定加强块[13]、第一连接件[14]、第二连接件[15]、第三连接件[16]、样品夹紧平移台[17]和底板[18];
所述第一样品前面板支撑件[8]、第三连接件[16]和样品夹紧平移台[17]位于底板[18]上,样品夹紧平移台[17]位于第一样品前面板支撑件[8]和第三连接件[16]之间,第二样品前面板支撑件[9]、第三样品前面板支撑件[11]位于第一样品前面板支撑件[8]上,接电环[10]位于三个样品前面板支撑件之间,用于像增强器通电;样品夹紧平移台[17]上方设置样品夹紧块[12],其下设置用于提供压力的弹簧;第三连接件[16]上依次设置第二连接件[15]和第一连接件[14],第一连接件[14]的顶端设置固定加强块[13],所述固定加强块[13]和连接件用于连接样品室的上部真空腔室。
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