[发明专利]去除或减少有毒物质的方法以及检测有毒物质的方法有效
| 申请号： | 201710151636.X | 申请日： | 2017-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN108627380B | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 孟庆斌;李春举;李斌;陈俊屹;孟昭;康子瑶 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军军事医学科学院毒物药物研究所;上海大学 |
| 主分类号： | G01N1/34 | 分类号： | G01N1/34;G01N5/00 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 刘海罗 |
| 地址： | 100850*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 去除 减少 有毒 物质 方法 以及 检测 | ||
1.一种去除或减少环境或样品中有毒物质的方法，所述有毒物质为选自芥子气、双(2-氯乙基)醚、氯乙基乙基硫醚和氯乙基乙基醚中的一种或多种；
所述方法包括如下步骤：
将式Ⅰ所示的化合物与环境或样品中的有毒物质以(1-10):1的摩尔比相接触；
其中，R为C1-12烷氧基。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，式Ⅰ所示的化合物与环境或样品中的有毒物质的摩尔比为(1-6):1。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，式Ⅰ所示的化合物与环境或样品中的有毒物质的摩尔比为1:1。
4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述样品为液态样品或气态样品。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中，R为C1-6烷氧基。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中，R为甲氧基、乙氧基、丙氧基、丁氧基或戊氧基。
7.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中，R为甲氧基、乙氧基或丁氧基。
8.一种石英晶体微天平传感器，包括石英晶体微天平和负载于石英晶体微天平的电极表面的薄膜；其中，所述薄膜包含式Ⅰ所示的化合物；
其中，R为C1-12烷氧基。
9.根据权利要求8所述的石英晶体微天平传感器，其中，所述薄膜的厚度为0.1-2μm。
10.根据权利要求8所述的石英晶体微天平传感器，其中，所述薄膜的厚度为0.2-1μm。
11.根据权利要求8所述的石英晶体微天平传感器，其中，所述薄膜的厚度为0.5μm。
12.根据权利要求8至11中任一项所述的石英晶体微天平传感器，其中，R为C1-6烷氧基。
13.根据权利要求8至11中任一项所述的石英晶体微天平传感器，其中，R为甲氧基、乙氧基、丙氧基、丁氧基或戊氧基。
14.根据权利要求8至11中任一项所述的石英晶体微天平传感器，其中，R为甲氧基、乙氧基或丁氧基。
15.一种制备权利要求8至14中任一项所述石英晶体微天平传感器的方法，包括如下步骤：
(1)将式Ⅰ所示的化合物与溶剂混合，得到悬浮液；
(2)将悬浮液涂覆于石英晶体微天平的电极表面，干燥，得到石英晶体微天平传感器；
其中，R为C1-12烷氧基。
16.根据权利要求15所述的方法，其中，步骤(1)中，所述溶剂选自水、丙酮和乙醇中的一种或多种。
17.根据权利要求15所述的方法，其中，步骤(2)中，所述涂覆为滴涂或旋涂。
18.根据权利要求15至17中任一项所述的方法，其中，步骤(1)中，所述混合在超声条件下进行。
19.根据权利要求15至17中任一项所述的方法，其中，步骤(2)中，所述干燥在真空条件下进行。
20.根据权利要求15至17中任一项所述的方法，其中，步骤(2)中，干燥温度为33-69℃。
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