[发明专利]一种结构光照明超分辨显微成像方法有效
申请号: | 201710152190.2 | 申请日: | 2017-03-15 |
公开(公告)号: | CN106770147B | 公开(公告)日: | 2019-07-19 |
发明(设计)人: | 阿密特·莱尔;席鹏;赵堃 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 北京万象新悦知识产权代理有限公司 11360 | 代理人: | 王岩 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 结构 照明 分辨 显微 成像 系统 及其 方法 | ||
本发明公开了一种结构光照明超分辨显微成像系统及其成像方法。本发明的成像系统包括:照明光源、旋转结构光生成器、第一会聚透镜、分光镜、物镜、载物台、样品、第二会聚透镜、数字成像设备和计算机;本发明通过成像图像重建算法处理原始图像,只需要旋转4次结构光条纹,不需要相位平移即可实现超分辨;成像图像重建算法基于频域处理而非空间域处理;样品的超分辨图像的频谱的过程,与传统频域方法不同,并非逐个结构光方向进行解析,而是将所有方向合并进行解析;为获得传统的各向均一的2倍分辨率提升,理论上原始图像数量可以从传统方法的9幅减少至4幅;进一步减少原始图像数量至3幅,理论上可获得各向均一的1.5倍左右的分辨率提升。
技术领域
本发明涉及光学显微成像技术,具体涉及一种结构光照明超分辨显微成像系统及其成像方法。
背景技术
超分辨光学显微技术利用对荧光发射在空间或时间上的调制,实现了突破光学衍射极限的显微成像。结构光照明超分辨显微成像技术(Structure IlluminationMicroscopy,SIM),是在宽场荧光显微的基础上,利用特殊调制的结构光照明样品,运用特定算法从调制图像中提取高频信息,突破衍射极限的限制。
二维SIM的常规重建方法需要至少9张原始图像。该重建方法由Gustafsson提出[1],在每一个照明方向取3个不同的初相位值,获得3幅原始图像,通过解线性方程组得到频域中的高频成分;为保证在各个方向上分辨率均得到2倍提升,通常照明条纹需选取3个不同方向,也就是说总共需要9张原始图像。另外Heintzmann和Cremer提出了一种四相位重构方法,计算量小,但在每一方向的照明条纹需要获取4幅原始图像,且对照明条纹的初相位取值精度的要求较高,因而并不常用[2]。有一些新方法可以将重建所需的图像数量降低,最低可至到4张[3,4],但这些方法基于空间域的迭代,而非传统方法中的频域求解,既有可能产生更多的伪像,也未能提供迭代一定收敛的理论解释。并且这些降低所需图像数量的方法,对结构光位相的精度要求更高。而从系统搭建的角度看,利用光栅来产生照明条纹时,需用机械的方式来控制光栅平移,造成速度和精度的牺牲。
发明内容
针对以上现有技术中存在的问题,本发明提出了一种结构光照明超分辨显微成像方法及配套成像系统;本发明的成像方法能有效降低需要的原始图像数量,且能只需旋转照明条纹,不需平移。
本发明的一个目的在于提出一种结构光照明超分辨显微成像系统。
本发明的结构光照明超分辨显微成像系统包括:照明光源、旋转结构光生成器、第一会聚透镜、分光镜、物镜、载物台、样品、第二会聚透镜、数字成像设备和计算机;其中,数字成像设备通过数据线连接至计算机;照明光源发出激发光;激发光经旋转结构光生成器发生衍射;衍射的激发光经第一会聚透镜会聚后,经二向色镜,由物镜聚焦,照射在放置在载物台上的样品上,形成结构光条纹;样品在结构光条纹的激发下发射荧光;荧光经物镜聚焦后,经二向色镜后,再经第二会聚透镜会聚,由数字成像设备采集荧光,并将光信号转换成电信号后传输至计算机;计算机形成原始图像;旋转样品上的结构光条纹至新的角度,在每一个角度上分别采集形成一幅原始图像,形成4幅以上或3幅的原始图像;通过成像图像重建算法处理原始图像,得到样品的超分辨图像。
旋转结构光生成器采用光栅、数字微镜阵列或空间光调制器。如果旋转结构光生成器采用光栅,则将光栅或者放置样品的载物台设置在旋转装置上,旋转装置以光轴为旋转轴,带动光栅或载物台能够360°旋转,从而带动光栅与样品之间发生相对角度变化,使得样品上的结构光条纹旋转至新的角度;如果旋转结构光生成器采用数字微镜阵列或空间光调制器,通过数字方式生成光条纹产生角度变化,使得样品上的结构光条纹旋转至新的角度。
照明光源采用激光光源、LED光源或汞灯光源。
分光镜采用二向色镜或半透半反镜。
本发明的另一个目的在于提供一种结构光照明超分辨显微成像方法。
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