[发明专利]一种单电阻电流采样的移相补偿方法有效
申请号: | 201710159390.0 | 申请日: | 2017-03-13 |
公开(公告)号: | CN106872766B | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
发明(设计)人: | 何志明;贺增;向大为 | 申请(专利权)人: | 苏州半唐电子有限公司 |
主分类号: | G01R19/25 | 分类号: | G01R19/25 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215300 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电阻 电流 采样 补偿 方法 | ||
本发明公开了一种单电阻电流采样的移相补偿方法,包括S20)、判断T1+T2是否大于2*Tmin,如是,执行步骤S31),如不是,执行步骤S32);S31)、判断T1是否大于或等于Tmin,如是,执行步骤S41),如不是,对中间相移相补偿后执行步骤S41);S32)、判断T1是否大于或等于Tmin,如是,执行步骤S42),如不是,对最大相移相补偿后执行步骤S42);S41)、判断T2是否大于或等于Tmin,如是,执行步骤S51),如不是,对中间相移相补偿后执行步骤S51);S42)、判断T2是否大于或等于Tmin,如是,执行步骤S52),如不是,对最小相移相补偿后执行步骤S52);S51)、在最大相和最小相的两侧采样;S52)、在最大相和中间相的同侧采样;本发明确保始终满足大于最小电流采样时间Tmin,从而完全消除采样盲区。
技术领域
本发明涉及单电阻电流采样领域,具体涉及一种单电阻电流采样的移相补偿方法。
背景技术
单电阻电流采样技术的工作原理是利用装设于直流母线的采样电阻通过适当算法实现电机三相电流采样。该技术与传统两电阻采样技术相比节省了一路采样通道,可进一步降低电机控制器的成本和体积。然而单电阻电流采样技术存在控制器MCU小于最小电流采样时间Tmin的情况,因此需要对占空比进行移相补偿。
为确保控制器MCU满足大于最小采样时间Tmin的条件,已有较多关于单电阻采样移相补偿方法的技术公开。如公开号为CN104579106A的中国发明专利公开了一种单电阻采样移相补偿方法,该方法通过变频三相逆变电路母线上设置的采样电阻采集母线电流,在采样时间较短时,对占空比最大相或最小相的PWM信号进行移相补偿,使电压占空比无变化。这样就克服了传统方案在采样时间较短时,占空比变化使得控制不准确的问题。然而在电机高速运行的极端工况下,现有技术存在无论如何移相均无法满足大于最小电流采样时间Tmin条件的采样盲区,导致电流采样不准。
又如公开号为CN105450094A的中国发明专利公开了一种电流采样方法及空调设备,通过判断采样电流是否为有效电流,若判定第n次采样对应的采样电流无效,将第n-1次采样的采样电流的电流估计值作为第n次采样的采样电流;再如公开号为CN106208826A的中国发明专利也公开了一种用于永磁同步电机的无三相电流传感器的过调制控制方法,提出在单电阻采样时,修改参考电压,三相均进行移动;算法不仅复杂,且同样存在电机高速运行的极端工况下,存在无论如何移相均无法满足大于最小电流采样时间Tmin条件的采样盲区,导致电流采样不准。
因此需要寻求一种单电阻电流采样的移相补偿方法,来确保控制器MCU采样时间始终满足大于最小电流采样时间Tmin,从而完全消除单电阻电流采样盲区。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提出一种单电阻电流采样的移相补偿方法,通过合适算法灵活有效移动占空比,确保控制器MCU采样时间始终满足大于最小电流采样时间Tmin,从而完全消除单电阻电流采样盲区,在此基础上,本发明还提出根据采用单边或双边的采样方式,进一步确保消除单电阻电流采样盲区的基础上,且进一步实现了灵活采样,适用范围广;同时本发明的算法简单易实施,可用于空调、冰箱、电动自行车等各种电机控制系统中。
本发明采用的技术方案如下:
一种单电阻电流采样的移相补偿方法,所述的方法包括如下步骤:
S10)、根据Ta、Tb和Tc确定T1和T2,其中,T1为第一采样点配合时间,T2为第二采样点配合时间,Ta为a、b、c三相PWM信号中占空比最大相对应的占空比时间,Tb为a、b、c三相PWM信号中占空比中间相对应的占空比时间,Tc为a、b、c三相PWM信号中占空比最小相对应的占空比时间;
S20)、判断T1+T2是否大于2*Tmin,如果是,执行步骤S31),如果不是,执行步骤S32),其中,Tmin为最小电流采样时间;
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