[发明专利]一种采样约束的圆检测方法

权利要求书

1.一种采样约束的圆检测方法，其特征在于：所述的圆检测步骤包括：

步骤1：构造边缘点集D，循环次数初值k＝0，其中D为对图像进行边缘检测后得到的点集；

步骤2：从D中随机选取一个点d₁(x₁,y₁)；

步骤3：从D中找到另一点d₂(x₂,y₂)，使d₁与d₂满足

其中，R_min为所求圆的半径最小值，R_max为所求圆的半径最大值，并且以d₁与d₂这两点为直径端点确定圆参数p_c(a,b,r)，该圆的有效计数大于阈值M_t，直至点d₂存在或D中点取完，其中，M_t为累计验证阈值，M_t＝2πrT，T为比例；若点d₂存在，转步骤5；否则，转步骤4；

步骤4：k＝k+1，若k＞K_max，则结束，其中，K_max为采样次数阈值，其值为边缘点集D中点的个数；否则，转步骤2；

步骤5：p_c为真圆的参数，判断已检测到的圆是否已达到已知圆的数量，若是，转步骤6；否则，转步骤2；

步骤6：对已检测出的真圆点进行模糊c均值聚类，求得圆的直径和圆心坐标参数。

2.如权利要求1所述一种采样约束的圆检测方法，其特征在于：对于图像边缘点的集合中，通过随机选取一个点和限制检测圆的半径就可以确定候选圆，获得候选圆的参数。

3.如权利要求1所述一种采样约束的圆检测方法，其特征在于：检测到圆周上的点使用模糊c均值方法对圆点集进行聚类划分，并且进行错误样本剔除，降低无效采集的次数。

4.如权利要求1所述一种采样约束的圆检测方法，其特征在于：在验证候选圆上的点时，将圆分为n等份，只考虑n等份方向上的点，而不用考虑所有点，这样便可减少计算次数，同时也降低了候选圆的无效累计次数。