[发明专利]电压调节器

说明书

本发明提供一种电压调节器，能够不损害作为调节器的稳定性地进行相位补偿电容的测试，且芯片面积不增加。该电压调节器构成为：在相位补偿电路处具有相位补偿电容测试电路，在外部输出电压调整端子处具有负电压检测电路，通过对外部输出电压调整端子施加负电压，起动相位补偿电容测试电路，通过测量相位补偿电容的放电时间或放电电流，对相位补偿电容的合格与否进行测试。

技术领域

本发明涉及具有测试电路的电压调节器。

背景技术

电压调节器的重要特性是不振荡。

图5是示出以往的电压调节器的电路图。

以往的电压调节器600具有差动放大电路60、作为相位补偿电路的电阻61和电容62、电流源63、分压电阻电路64、PMOS晶体管65、输出晶体管66和基准电压电路67。

相位补偿电路通过使形成的零点在低频处产生，响应性良好，且即使是较小的输出电容也稳定进行动作(例如，参照专利文献1)。

专利文献1：日本特开2004-62374号公报

但是，以往的电压调节器存在如下课题：在制造工序中实施的测试中，对于位于电路内部的相位补偿电路等，难以直接测试氧化膜异常、触点连接不良等元件单体的不良。

例如，如果对相位补偿电路设置测试端子，则存在如下课题：因测试用焊盘而使芯片面积增大，并且由于测试用焊盘的寄生电容成分，导致相位补偿电路的性能受损。

发明内容

本发明鉴于上述课题，其目的在于提供一种能够在不新设置测试用焊盘的情况下对相位补偿电路进行测试的电压调节器。

为了解决以往的课题，本发明的电压调节器设为如下结构。

构成为具有：第一输出端子和第二输出端子，且具有：分压电路，其设置于第二输出端子，输出基于输出电压的反馈电压；差动放大器，其对基准电压和反馈电压进行比较；输出晶体管，该输出晶体管的漏极与第一输出端子连接，根据基于输入到源极的电源电压和输入到栅极的差动放大器的输出电压的电压，输出输出电压；相位补偿电路和相位补偿电容测试电路，它们设置于差动放大器的输出端子；以及负电压检测电路，其设置于第二输出端子，负电压检测电路在检测到所述第二输出端子成为了负电压时，输出检测信号，相位补偿电容测试电路接收负电压检测电路的检测信号并将充入到相位补偿电容的电荷释放到接地端子。

根据本发明的电压调节器，由于在相位补偿电路处具有相位补偿电容测试电路，在外部输出电压调整端子处具有负电压检测电路，所以能够不损害作为调节器的稳定性地进行相位补偿电容的测试，且无需追加测试用焊盘，因此芯片面积不增加。

附图说明

图1是示出本发明第一实施方式的电压调节器的一例的电路图。

图2是示出本发明第一实施方式的电压调节器的另一例的电路图。

图3是示出本发明第二实施方式的电压调节器的一例的电路图。

图4是示出本发明的二级放大的电压调节器的一例的电路图。

图5是示出以往的电压调节器的电路图。

标号说明

104：外部输出电压调整端子；105：导通/截止端子；17：基准电压电路；10：差动放大电路；13、23、31：恒流电路；14：分压电路；20、40：相位补偿电容测试电路；30：负电压检测电路。

具体实施方式

[第一实施方式]

图1是示出第一实施方式的电压调节器的一例的电路图。