[发明专利]ATE电压测试系统及ATE电压测试方法有效

专利信息
申请号: 201710162218.0 申请日: 2017-03-17
公开(公告)号: CN107064773B 公开(公告)日: 2019-09-17
发明(设计)人: 张先明 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: ate 电压 测试 系统 方法
【说明书】:

发明提供一种ATE电压测试系统及ATE电压测试方法。该ATE电压测试系统通过电脑(3)测量输出板(2)的输出电压值,将所述输出板(2)的输出电压值与预设定的合格电压值范围进行比较,得到测试结果;在所述测试结果为测得的输出板(2)的输出电压值不在合格电压值范围内时,向测试治具板(1)发出控制信号;所述测试治具板(1)根据控制信号通过I2C连线调整待测试的PCBA的输出电压,并将调整后的PCBA的输出电压传送至输出板(2),从而调节输出板(2)的输出电压值至预设定的合格电压值范围内,能有效地提升ATE电压测试的合格率,提高PCBA的良品率,减少报废率,同时也能够用来管控更精细的伽马电压值,保证PCBA在后续搭配面板得到更好的显示效果。

技术领域

本发明涉及显示器件测试领域,尤其涉及一种ATE电压测试系统及ATE电压测试方法。

背景技术

在显示技术领域,液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)与有机发光二极管显示器(Organic Light Emitting Diode,OLED)等平板显示装置已经逐步取代阴极射线管(Cathode Ray Tube,CRT)显示器。

现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器,其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板包括相对设置的薄膜晶体管阵列基板(ThinFilm Transistor Array Substrate,TFT Array Substrate)与彩色滤光片基板(ColorFilter,CF)及填充在两者之间的液晶层。液晶显示器包括阵列排布的多个像素,每个像素电性连接一个薄膜晶体管(TFT),薄膜晶体管的栅极(Gate)连接至水平扫描线,源极(Source)连接至垂直方向的数据线,漏极(Drain)则连接至像素电极。液晶显示器的控制元件,如时序控制器(TCON)、脉宽调制集成电路(PWM IC)、可编程伽马校正集成电路(P-GammaIC)等通常制作于印刷电路板(Printed Circuit Board Assembly,PCBA)上,通过时序控制器(TCON)产生信号来对水平扫描线上施加足够的电压,会使得电性连接至该条水平扫描线上的所有TFT打开,从而数据线上的信号电压能够写入像素,控制不同液晶的透光度进而达到控制色彩与亮度的效果。

在TFT液晶显示面板驱动中,时序控制器所需要的电压范围越来越精细,伽马(Gamma)电压所需要的范围也是越来越窄,以能够更好的符合Gamma 2.2校正曲线。现有的PWM IC以及P-Gamma IC多是使用集成电路总线(Inter-Integrated Circuit,I2C)控制的数字(Digital)控制型集成电路,通过填写内部寄存器(Register)即可控制输出电压的大小。

在对PCBA进行测试时,采用现有的集成电路自动测试机(Automatic TestEquipment,ATE)只是进行简单的输出电压测试,然后判断测得的输出电压,如PWM IC的输出电压、P-Gamma IC的输出电压等是否在目标电压范围,若测得的输出电压处于目标电压范围内则判定被测的PCBA合格,处于目标范围外则判定不合格。实际上,PCBA中的PWM IC以及P-Gamma IC的电压输出都有一定的误差,甚至其误差范围可能会超出目标电压的范围,所以在很多时候PCBA的ATE测试会出现各种电压超出范围的问题,不良率会很高,导致PCBA报废或相应的IC报废,解决的方法是将PCBA或者IC重新拿去维修、更改IC等,费时费力,并造成成本上升。

发明内容

本发明的目的在于提供一种ATE电压测试系统,能有效地提升ATE电压测试的合格率,提高PCBA的良品率,减少报废率,同时也能够用来管控更精细的伽马电压值,保证PCBA在后续搭配面板得到更好的显示效果。

本发明的目的还在于提供一种ATE电压测试方法,能有效地提升ATE电压测试的合格率,提高PCBA的良品率,减少报废率,同时也能够用来管控更精细的伽马电压值,保证PCBA在后续搭配面板得到更好的显示效果。

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