[发明专利]一种声学产品的噪音测试方法及其系统有效
申请号: | 201710169621.6 | 申请日: | 2017-03-21 |
公开(公告)号: | CN106954169B | 公开(公告)日: | 2020-02-14 |
发明(设计)人: | 郑勇 | 申请(专利权)人: | 深圳市信维声学科技有限公司 |
主分类号: | H04R29/00 | 分类号: | H04R29/00 |
代理公司: | 44275 深圳市博锐专利事务所 | 代理人: | 张明 |
地址: | 518000 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 声学 产品 噪音 测试 方法 及其 系统 | ||
本发明公开了一种声学产品的噪音测试方法及其系统,方法包括:在所述声学产品中的驱动单元进行密封之前,获取驱动单元在最大振幅时的电压值;根据所述电压值制作驱动信号;利用所述驱动信号驱动所述驱动单元,对驱动单元的高次谐波失真进行测试;对高次谐波失真的测试结果进行分析,获得高次谐波失真的高次范围;在所述高次范围内设定总谐波失真百分比的上限值;测试待测声学产品的高次谐波失真,当在所述高次范围内得到的总谐波失真百分比高于所述上限值时,判定为不合格品。本发明通过对声学产品的半成品进行噪音测试,可以检测出半成品是否存在细小的缺陷,提高成品的可靠性和使用寿命,同时也可以及时剔除不合格品,节约生产成本。
技术领域
本发明涉及噪音测试技术领域,尤其涉及一种声学产品的噪音测试方法及其系统。
背景技术
声学产品在工作状态下是“运动”的,在生产过程中一般不对半成品进行声学检测,所以无法判断半成品在“运动”状态下的产品性能。而声学产品的小缺陷不易在成品阶段被检测到,例如产品共振频率发生变化,最大振幅的变化或者膜片折环的轻微褶皱等,这些都会影响声学产品的性能,影响体验效果。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供一种可检测出声学产品的细小缺陷的噪音测试方法及其系统。
为了解决上述技术问题,本发明采用的技术方案为:
一种声学产品的噪音测试方法,
在所述声学产品中的驱动单元进行密封之前,获取驱动单元在最大振幅时的电压值;
根据所述电压值制作驱动信号;
利用所述驱动信号驱动所述驱动单元,对驱动单元的高次谐波失真进行测试;
对高次谐波失真的测试结果进行分析,获得高次谐波失真的高次范围;
在所述高次范围内设定总谐波失真百分比的上限值;
测试待测声学产品的高次谐波失真,当在所述高次范围内得到的总谐波失真百分比高于所述上限值时,判定为不合格品。
本发明的另一技术方案为:
一种声学产品的噪音测试系统,包括:
获取模块,用于在所述声学产品中的驱动单元进行密封之前,获取驱动单元在最大振幅时的电压值;
制作模块,用于根据所述电压值制作驱动信号;
测试模块,用于利用所述驱动信号驱动所述驱动单元,对驱动单元的高次谐波失真进行测试;
分析模块,用于对高次谐波失真的测试结果进行分析,获得高次谐波失真的高次范围;
设定模块,用于在所述高次范围内设定总谐波失真百分比的上限值;
判定模块,用于测试待测声学产品的高次谐波失真,当在所述高次范围内得到的总谐波失真百分比高于所述上限值时,判定为不合格品。
本发明的有益效果在于:通过在声学产品的驱动单元进行密封之前,对驱动单元进行高阶谐波失真测试,分析得到谐波失真的高阶范围,然后设定在谐波失真的高阶范围内总谐波失真百分比的上限值,当对其他的声学产品的驱动单元进行噪音测试时,高阶谐波失真超过所述上限值的产品判定为不合格品,测试方法简单、测试效率高、成本低。本发明通过对声学产品的半成品进行噪音测试,可以检测出半成品是否存在细小的缺陷,提高成品的可靠性和使用寿命,同时也可以及时剔除不合格品,节约生产成本。
附图说明
图1为本发明实施例一的一种声学产品的噪音测试方法的流程图;
图2为本发明实施例二的一种声学产品的噪音测试系统的结构示意图;
标号说明:
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