[发明专利]一种利用深度学习重建高光谱图像的方法在审

专利信息
申请号: 201710174894.X 申请日: 2017-03-22
公开(公告)号: CN106997581A 公开(公告)日: 2017-08-01
发明(设计)人: 姜鑫;颜成钢;吴嘉敏;吴桐;崔恩楠;彭冬亮;薛安克 申请(专利权)人: 杭州电子科技大学
主分类号: G06T3/40 分类号: G06T3/40;G06T7/90;G06N3/04
代理公司: 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙)33240 代理人: 杜军
地址: 310018 浙*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 利用 深度 学习 重建 光谱 图像 方法
【权利要求书】:

1.一种利用深度学习重建高光谱图像的方法,其特征在于包括如下步骤:

步骤(1)获得高光谱数据集;

首先将需要训练的样本高光谱图像放在指定文件夹内,然后将每张样本高光谱图像都转换成单通道图片,再将单通道图片切割成20像素点*20像素点的小图片,从而获得高光谱数据集;便于接下来的步骤对高光谱数据集中的图像进行操作;

步骤(2)通过稀疏编码的方式进行训练并得到神经网络;

通过稀疏编码的方式对高光谱数据集中的图像进行处理,得到优化后的高光谱字典;将字典D和二维传感器图像同时输入深度卷积网络模型中,从而进行训练并得到神经网络;

步骤(3)将目标场景中原始的高光谱图像,以空间光谱随机编码的方式编码到光学投影上,形成二维传感器图像;

步骤(4)通过深度神经网络对二维传感器图像进行还原重建,得到高光谱图像。

2.根据权利要求1所述的一种利用深度学习重建高光谱图像的方法,其特征在于高光谱字典D的优化过程如下:

通过如下公式对高光谱数据集中的图像进行表示:

<mrow><mi>h</mi><mo>=</mo><mi>D</mi><mi>a</mi><mo>=</mo><munderover><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>j</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>q</mi></munderover><msub><mi>d</mi><mi>j</mi></msub><msub><mi>a</mi><mi>j</mi></msub><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow></mrow>

其中,h表示向量化的图像,D表示高光谱字典,dj表示所述高光谱字典的原子,a表示稀疏系数,αj为矩阵A中的第j个稀疏向量,q为总列数;

利用下述公式(2)进行学习获得优化后的高光谱字典D:

<mrow><munder><mrow><mi>m</mi><mi>i</mi><mi>n</mi></mrow><mrow><mo>{</mo><mi>D</mi><mo>,</mo><mi>A</mi><mo>}</mo></mrow></munder><mo>|</mo><mo>|</mo><mi>T</mi><mo>-</mo><mi>D</mi><mi>A</mi><mo>|</mo><msubsup><mo>|</mo><mn>2</mn><mn>2</mn></msubsup><mo>;</mo><mi>s</mi><mo>.</mo><mi>t</mi><mo>.</mo><mo>&ForAll;</mo><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn><mo>,</mo><mo>...</mo><mo>,</mo><mi>o</mi><mo>,</mo><mo>|</mo><mo>|</mo><msub><mi>&alpha;</mi><mi>i</mi></msub><mo>|</mo><msub><mo>|</mo><mi>o</mi></msub><mo>&le;</mo><mi>k</mi><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>2</mn><mo>)</mo></mrow></mrow>

其中,为o个图像块所组成的训练集,是每列为k-稀疏向量的矩阵,并且k为指定的稀疏程度,αi为矩阵A中的第i个稀疏向量;

采用K-SVD算法来求解公式(2)中的优化问题,训练高光谱原子;过完备字典D是从步骤1分割后的大量图像中学习获得的,步骤1分割后的大量图像是三维的空间光谱图像块,每个图像块的分辨率为n=lx*ly*lλ,其中lx,ly,lλ分别为原子大小;高光谱原子的大小m是在过完备字典训练中的一个重要参数,与训练的图像块大小m=lx*ly相等;设高光谱图像是k-稀疏的,则测量值的数量必须满足条件m>o,其中,o=(klog(q/k)),q与n成正比关系。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州电子科技大学,未经杭州电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710174894.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top