[发明专利]一种水平方向对称的高阶超模方向耦合波导探测器有效
申请号: | 201710176436.X | 申请日: | 2017-03-23 |
公开(公告)号: | CN106842421B | 公开(公告)日: | 2020-09-29 |
发明(设计)人: | 余学才;童文强;李林松;马朝阳 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G02B6/12 | 分类号: | G02B6/12 |
代理公司: | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 | 代理人: | 周永宏;王伟 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 水平 方向 对称 高阶超模 耦合 波导 探测器 | ||
1.一种水平方向对称的高阶超模方向耦合波导探测器,其特征在于,包括从下往上依次设置的衬底层(1)、波导层(2)、吸收层(3)以及覆盖层(4);
所述波导层(2)由左波导(21)、中波导(22)和右波导(23)并排构成,左波导(21)和右波导(23)结构相同且呈水平对称分布设置;所述中波导(22)的表面中心位置有一入射光区域(5),光由入射光区域(5)入射进波导层(2),在波导层(2)内向前传播的同时被吸收层(3)吸收;
所述吸收层(3)包括第一吸收层(31)和第二吸收层(32),第一吸收层(31)放置于左波导(21)上,第二吸收层(32)放置于右波导(23)上;
所述覆盖层(4)包括第一覆盖层(41)和第二覆盖层(42),第一覆盖层(41)覆盖于第一吸收层(31)顶上,第二覆盖层(42)覆盖于第二吸收层(32)顶上。
2.根据权利要求1所述的高阶超模方向耦合波导探测器,其特征在于,所述衬底层(1)的材料为InP,折射率为3.14。
3.根据权利要求1所述的高阶超模方向耦合波导探测器,其特征在于,所述波导层(2)的材料为InGaAsP,折射率为3.3,厚度为5μm。
4.根据权利要求1所述的高阶超模方向耦合波导探测器,其特征在于,所述吸收层(3)的材料为InGaAs,折射率为3.56-0.1i,厚度为0.12μm。
5.根据权利要求1所述的高阶超模方向耦合波导探测器,其特征在于,所述覆盖层(4)的材料为InP,厚度为0.8μm。
6.根据权利要求1所述的高阶超模方向耦合波导探测器,其特征在于,所述左波导(21)、中波导(22)和右波导(23)的宽度均为5μm,波导层(2)的总宽度为15μm。
7.根据权利要求1-6任一所述的高阶超模方向耦合波导探测器,其特征在于,所述波导层(2)底端与衬底层(1)接触的部位设置有覆盖过渡层(6),用于限制光功率泄漏到空气中,降低能量损耗。
8.根据权利要求7所述的高阶超模方向耦合波导探测器,其特征在于,所述覆盖过渡层(6)的厚度为0.5μm。
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