[发明专利]用于力检测器的基于拐折的校准方法有效

专利信息
申请号: 201710181808.8 申请日: 2017-03-24
公开(公告)号: CN107239161B 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 王营;I.波利什楚克 申请(专利权)人: 辛纳普蒂克斯公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041;G06F3/044
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 张懿;郑冀之
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 检测器 基于 校准 方法
【说明书】:

在本文中描述的实施例包括一种用于校准电容性力传感器的方法。所述方法包括获取电容性传感器中的多个传感器电极处的多个电容变化,其中所述多个电容变化表示力。所述方法还包括识别所述多个电容变化中的多个拐点,其中所述多个拐点中的每一个都为一个建模区定界。所述方法包括为每个建模区确定一个建模方程,其中所述建模方程被用于力感测的校准。

技术领域

发明的实施例一般地涉及用于触摸感测的方法和装置,并且更具体地,涉及处理所接收到的信号。

背景技术

包括接近传感器设备(通常也被称为触摸板或触摸传感器设备)的输入设备被广泛用在各种各样的电子系统中。接近传感器设备典型地包括常常通过表面划界的感测区,接近传感器设备在该感测区中确定一个或多个输入对象的存在、位置和/或运动。接近传感器设备可以被用来为电子系统提供界面。例如,接近传感器设备常常被用作较大型计算系统的输入设备(诸如集成在笔记本或桌上型计算机中的或者作为笔记本或桌上型计算机外设的不透明触摸板)。接近传感器设备还常常在较小型的计算系统中使用(诸如集成在蜂窝电话中的触摸屏)。

发明内容

在本文中描述的实施例包括一种用于操作输入设备的方法,其包括获取电容性传感器中的多个传感器电极处的多个电容变化,其中该多个电容变化表示力。该方法还包括识别该多个电容变化中的多个拐点,其中该多个拐点中的每一个都为一个建模区定界。该方法还包括为每个建模区确定一个建模方程,其中该建模方程被用于力感测的校准。

在另一实施例中,一种用于电容性感测设备的处理系统,其包括被配置成获取电容性传感器中的多个传感器电极处的电容变化的触摸感测模块。该处理系统还包括被配置成基于电容变化来确定力的力感测模块。该处理系统还包括校准模块,其被配置成识别多个电容变化中的多个拐点,其中该多个拐点中的每一个都为一个建模区定界,并且还被配置成为每个建模区确定建模方程,其中该建模方程被用于力感测的校准。

附图说明

为了本发明的以上记载的特征所用的方式可以被详细地理解,可以通过参考实施例来得到以上简要地概述的本发明的更具体的描述,所述实施例中的一些实施例示意在附图中。然而,要注意的是,附图仅示意本发明的典型实施例,并且因此将不被视为限制其范围,因为本发明可以容许其他等同地有效的实施例。

图1是根据一个实施例的包括输入设备的系统的框图。

图2是根据一个实施例的示例传感器电极图案。

图3图示力水平与沿着触摸传感器的长轴的位置之间的关系的示例曲线图。

图4图示力水平与沿着触摸传感器的短轴的位置之间的关系的示例曲线图。

图5图示非均匀分布的校准点。

图6图示沿着长轴的校准点的分段线性近似的曲线图。

图7图示沿着短轴的校准点的分段线性近似的曲线图。

图8图示用于校准电容性力传感器的示例处理系统。

图9是图示用于校准电容性力传感器的方法的流程图。

为了便于理解,已经在可能的情况下使用了相同的附图标记来标明为附图所共有的相同的元件。要预期到的是,在没有特定记载的情况下在一个实施例中公开的元件可以被有益地用在其他实施例上。在此提及的附图不应当被理解为按照比例绘制,除非特别说明。此外,为了呈现和解释的清楚性,附图通常被简化并且细节或组件被省略。附图和讨论用于解释以下所论述的原理,其中相似的标记表示相似的元件。

具体实施方式

下面的详细描述本质上仅是示例性的,并且不意图限制本发明或这样的实施例的应用和使用。此外,不意图受前述技术领域、背景技术、发明内容或者下面的具体实施方式中所给出的任何明示或暗示理论的约束。

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