[发明专利]一种降低开路器校准件边缘电容的方法及开路器校准件有效

专利信息
申请号: 201710182343.8 申请日: 2017-03-24
公开(公告)号: CN106970344B 公开(公告)日: 2018-04-17
发明(设计)人: 马延军 申请(专利权)人: 西安科技大学
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R27/26;G01R31/00
代理公司: 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙)11427 代理人: 莫文新
地址: 710054*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 降低 开路 校准 边缘 电容 方法
【权利要求书】:

1.一种降低开路器校准件边缘电容的方法,其特征在于,将所述开路器校准件的电容设置为同轴渐变电容,其中:

将所述开路器校准件的轴线开始端的内导体与外导体尺寸分别设置为与矢量网络分析仪端口相配合的尺寸,将所述开路器校准件轴线结束端的内导体和外导体尺寸设置为小于轴线开始端的内导体与外导体的尺寸;

所述轴线开始端至所述轴线结束端的距离为l;z为轴线上位于轴线开始端至轴线结束端之间任意点与轴线开始端之间的距离,且z≤l;所述内导体直径用d(z)表示,所述外导体直径用D(z)表示,所述同轴渐变电容的阻抗其中μ为磁导率,ε为介电常数;所述外导体直径D(z)与所述内导体直径d(z)的比值为定值。

2.根据权利要求1所述的一种降低开路器校准件边缘电容的方法,其特征在于,外导体直径D(z)与所述内导体直径d(z)为直线函数。

3.根据权利要求2所述的一种降低开路器校准件边缘电容的方法,其特征在于,在所述开路器校准件的轴线上,所述内导体的轴线结束端至轴线开始端的距离小于所述外导体的轴线结束端至轴线开始端的距离。

4.一种开路器校准件,包括外导体、内导体,其特征在于,所述外导体为空心壳体,其内部具有锥形腔室;所述内导体为实心锥形芯体;所述内导体同轴安装在所述外导体的锥形腔室内,且所述外导体和所述内导体的开始端的端面为大直径端,且处在同一端面上,其中:

沿所述开路器校准件轴向,任意一个径向截面上所述外导体的内径与所述内导体外径的比值为定值。

5.根据权利要求4所述的开路器校准件,其特征在于,还包括屏蔽罩,所述屏蔽罩固定安装在所述外导体的结束端上。

6.根据权利要求5所述的开路器校准件,其特征在于,所述外导体开始端设有外螺纹,所述内导体开始端的端部开有插孔,所述开路器校准件通过所述外螺纹旋紧安装在矢量网络分析仪端口上,矢量网络分析仪端口的插针插入所述插孔内。

7.根据权利要求6所述的开路器校准件,其特征在于,所述外导体与所述内导体的结束端平齐设置。

8.根据权利要求6所述的开路器校准件,其特征在于,在所述开路器校准件的轴线上,所述内导体的结束端至开始端的距离小于所述外导体的结束端至开始端的距离。

9.根据权利要求1-8任一项所述的开路器校准件,其特征在于,还包括内部绝缘支撑件,所述内导体通过所述内部绝缘支撑件固定在所述外导体的锥形腔室内。

10.根据权利要求9所述的开路器校准件,其特征在于,所述内导体与外导体的材质均为黄铜,且表面镀金处理。

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