[发明专利]封闭空间内X、γ射线电离辐射强度检测方法有效
申请号: | 201710185286.9 | 申请日: | 2017-03-25 |
公开(公告)号: | CN107132567B | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 韩志坚 | 申请(专利权)人: | 浙江君安检测技术有限公司 |
主分类号: | G01T1/16 | 分类号: | G01T1/16 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310012 浙江省杭州市西湖区*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 封闭 空间 射线 电离辐射 强度 检测 方法 | ||
本发明提供一种封闭空间内X、γ射线电离辐射强度检测方法,包括如下步骤:选择要测量的空间辐射点;以该空间辐射点为原心建立三维空间坐标;之后进行选点并测量;最后通过公式计算得出最终值。
技术领域
本发明涉及辐射检测,特别涉及封闭空间内X、γ射线电离辐射强度检测方法。
背景技术
辐射损伤是一定量的电离辐射作用于机体后,受照机体所引起的病理反应。
X线照射生物体时,与机体细胞、组织、体液等物质相互作用,引起物质的原子或分子电离,因而可以直接破坏机体内某些大分子结构,如使蛋白分子链断裂、核糖核酸或脱氧核糖核酸的断裂、破坏一些对物质代谢有重要意义的酶等,甚至可直接损伤细胞结构。另外射线可以通过电离机体内广泛存在的水分子,形成一些自由基,通过这些自由基的间接作用来损伤机体。辐射损伤的发病机理和其它疾病一样,致病因子作用于机体之后,除引起分子水平,细胞水平的变化以外,还可产生一系列的继发作用,最终导致器官水平的障碍乃至整体水平的变化,在临床上便可出现放射损伤的体征和症状。
射线作用于机体后,所引起的机体损伤直接与X线剂量有关。以不同剂量照射动物,可以发现当剂量达到一定量时才开始出现急性放射病征象,继续增加剂量时,则可出现死亡,剂量越大,死亡率越高,当增加到一定大的剂量时,则100%的动物发生死亡。
《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》GB18871-2002中明确提出:①关于工作人员的剂量当量限值在防止非随机性限制方面,对除眼晶体之外的所有组织或器官均为每年0.5Sv(50rem).对眼晶体为每年0.15Sv(15rem)在控制随机性效应方面,有小剂量当量为每年0.05Sv(5rem).②关于公众中个人的剂量当量限值,是工作人员限值的1/10。
目前常用X线辐射强度一般采用X射线检测仪,比如RE2000型便携式辐射检测仪,其测量范围为剂量率:0.01μSv/h~15mSv/h,但是仪器一般均有测量误差,RE2000型便携式辐射检测仪的误差在±5%左右。
由于仪器的测量误差,可能导致下列情况;比如国家标准为≤20μSv/h,检测值为20.5μSv/h,超出国家标准;但是由于测量误差其可能测得的实际值为20.5*0.96=19.68μSv/h,符合国家标准,检测结果为合格。
消除上述误差,一方面可以改进测量仪器,其难度较大,且精度越高,价格越高;另一方面可以从改进测量方法,目前还未有比较好的测量方法能提升测量精度。
发明内容
本发明的目的是提供一种封闭空间内X、γ射线电离辐射强度检测方法,提升检测精度。
本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种封闭空间内X、γ射线电离辐射强度检测方法,包括如下步骤:
1)选择要测量的空间辐射点;
2)以该空间辐射点为原心建立三维空间坐标,之后如下步骤:
a)以M1(0,Y,0)、M2(X,0,0)、M3(0,-Y,0)、M4(-X,0,0)、M5(0,0,Z)、M6(0,0,-Z)建立第一批测量点进行测量并记录;
b)以N1(-X/2,Y/2,Z/2)、N2(-X/2,Y/2,-Z/2)、N3(X/2,Y/2,Z/2)、N4(X/2,-Y/2,-Z/2)、N5(-X/2,-Y/2,Z/2)、N6(-X/2,-Y/2,-Z/2)、N7(X/2,-Y/2,Z/2)、N8(X/2,-Y/2,-Z/2)建立第二批测量点进行测量并记录;
c)以第一批测量点中任意一一点和第二批测量点中任意一点连线的中点建立第三批测量点P1、P2……P48进行测量并记录;
d)测量1)中空间辐射点的辐射强度A;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江君安检测技术有限公司,未经浙江君安检测技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710185286.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于实时辐射剂量测量的有源剂量计系统
- 下一篇:失效时间校正系统及方法