[发明专利]一种基于磁场检测的电流测量方法及电流传感系统

权利要求书

1.一种基于磁场检测的电流测量方法，其特征在于，导体通入待测电流I_T为下层，带有四个磁传感器的硅片件放置于导体上方为上层，第一磁传感器位于所述导体上的U形凹槽前端的开口垂直映射到上层的位置，第二磁传感器件于所述U形凹槽开口反方向垂直映射到上层的位置，第三磁传感器位于所述第一磁传感器一侧且位于所述导体正上方垂直映射到上层的位置，第四磁传感器位于所述第一磁传感器另一侧且位于所述U形凹槽开口反方向垂直映射到上层的位置或者导体正上方垂直映射到上层的位置，设B为待处理磁通量，B_T为待处理磁通量B中待测电流I_T通过导体产生部分，B_N为待处理磁通量B中外部干扰源I_N产生部分，经过算法计算得出待处理磁通量B的同时衰减外部干扰源所产生的磁场导致的干扰信号，根据待处理磁通量B求出待测电流I_T的大小，其中计算待处理磁通量B的推导公式如下：待测电流I_T对四个磁传感器的感应磁通量分别用B_Ta、B_Tb、B_Tc、B_Td表示，外部干扰源对磁传感器的感应磁通量用B_Na、B_Nb、B_Nc、B_Nd表示，四个磁传感器的总磁通量分别用B_a、B_b、B_c、B_d表示，则B＝B_a+B_b-(B_c+B_d)

＝(B_Ta+B_Na)+(B_Tb+B_Nb)–(B_Tc+B_Nc)–(B_Td+B_Nd)(B_Tb、B_Tc、B_Td远小于B_Ta)

≈B_Ta+B_Na+B_Nb-B_Nc-B_Nd

＝B_Ta+(B_Na+B_Nb-B_Nc-B_Nd)

＝B_T+B_N。