[发明专利]一种图像坏点检测方法和装置

权利要求书

1.一种图像坏点检测方法，其特征在于，所述图像为bayer格式图像，像素点的像素通道包括Gr通道、Gb通道、B通道和R通道，则每个像素点对应的像素值为Gr通道分量值、Gb通道分量值、R通道分量值、B通道分量值中的一种，所述方法包括以下步骤：

以当前像素点为中心像素点，获取图像上NxM大小的像素区块；

获取与当前像素点距离为第一距离、且像素通道为Gr通道或Gb通道对应的所有像素点的像素值，并计算这些像素点的像素值的中位数，得到第一像素中值；

获取与当前像素点距离为第二距离、且像素通道为Gr通道或Gb通道对应的所有像素点的像素值，并计算这些像素点的像素值的中位数，得到第二像素中值；所述第二距离大于第一距离；

分别计算第一梯度值、第二梯度值和第三梯度值；所述第一梯度值为当前像素点的像素值与第一像素中值的差，所述第二梯度值为当前像素点的像素值与第二像素中值的差，所述第三梯度值为第一像素中值与第二像素中值的差；

对第一梯度值、第二梯度值和第三梯度值三者进行第一判断，所述第一判断包括：判断第一梯度值与第二梯度值的符号是否不同，若是则判定当前像素点不是疑似坏点，否则判断第一梯度值的绝对值与第三梯度值的绝对值的商是否大于第一预设误差，若是则判定当前像素点为疑似坏点，否则判定当前像素点不是疑似坏点；

记录第一判断结果，所述第一判断结果包括当前像素点为疑似坏点或当前像素点不是疑似坏点。

2.如权利要求1所述的图像坏点检测方法，其特征在于，所述方法还包括步骤：

计算以当前像素点为中心，预设像素区块内所有像素点在不同预设方向上的二阶梯度均值，每一个预设方向对应一个二阶梯度均值；

对计算得出的所有二阶梯度均值取最小值，得到最小二阶梯度均值并记录；

计算预设像素区块内像素点对应的纹理值，得到纹理值；

对最小二阶梯度均值与纹理值进行第二判断，并记录第二判断结果，所述第二判断包括：判断最小二阶梯度均值与纹理值的差是否大于第二预设误差，若是则判定当前像素点为疑似坏点，否则判定当前像素点为非疑似坏点。

3.如权利要求2所述的图像坏点检测方法，其特征在于，所述第二预设误差根据当前像素点的通道类型确定。

4.如权利要求2所述的图像坏点检测方法，其特征在于，所述方法包括：

对第一判断结果和第二判断结果进行第一逻辑运算，若第一逻辑运算结果为真则判定当前像素点为坏点，若第一逻辑运算结果为假则判定当前像素不是坏点。

5.如权利要求4所述的图像坏点检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取NxM大小的像素区块内所有像素点的像素值，并根据像素值的大小将所获取的所有像素点进行顺序排列，得到一像素值序列，每一排列后的像素点对应一排列编号；

计算像素值序列的中位数，得到第三像素中值；

对判定为坏点的像素点采用第三像素中值替换其原有的像素值。

6.如权利要求1或2所述的图像坏点检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

获取预设大小的像素区块内所有像素点的像素值，并根据像素值的大小将所获取的所有像素点进行顺序排列，得到一像素值序列，每一排列后的像素点对应一排列编号；

计算像素值序列的中位数，得到第三像素中值；

根据预设边界阈值，从像素值序列中确定一个指定小像素值和一个指定大像素值，所述指定小像素值为排列编号为编号指定小值的像素点对应的像素值，所述编号指定小值为像素值最小的像素点的排列编号与预设边界阈值的差的绝对值；所述指定大像素值为排列编号为编号指定大值的像素点对应的像素值，所述编号指定大值为像素值最大的像素点的排列编号与预设边界阈值的差的绝对值；

计算指定大像素值与指定小像素值之差，确定第一差值；

根据当前像素点与第三像素中值的大小关系，确定当前像素点的像素类型，并根据当前像素点的像素类型确定第二差值；

对第一差值和第二差值进行第三判断，并记录第三判断结果；所述第三判断包括：第二差值与第一差值的商是否在大于第三预设误差，若是则判定当前像素点为疑似坏点，否则不判定当前像素点为疑似坏点。