[发明专利]电容屏测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及测试技术领域，特别涉及一种电容屏测试装置。

背景技术

随着电子技术的不断发展，电子产品正不断丰富着我们的生活，电容屏作为大多数电子产品的重要部件，其好坏关系着产品本身的性能及质量问题。目前大多采用测试机构及与电容屏相匹配的测试治具，来对电容屏进行功能测试。现阶段对电容屏的功能测试中，通常是由测试人员手动将电容屏和测试机构的对应PIN端插接在一起而进行测试，并且在测试完成后通常也是由测试人员使用标记笔在电容屏上作相应的标记以达到区分良品和不良品的目的。然而这样的操作方式一方面成本较高、效率较低，另一方面还易发生疏漏，从而导致电容屏漏标记、漏检的概率较高。

基于此，一种能在用于对电容屏进行功能检测并能进行标记作业的电容屏测试装置的开发很有必要。

发明内容

为了克服上述现有技术的不足，本发明提供了一种兼具测试与标记功能的电容屏测试装置。

为了解决上述技术问题，本发明的电容屏测试装置采用的技术方案是：

电容屏测试装置，包括：

控制系统，所述控制系统至少具有第一接口模块和第二接口模块；

测试机构，所述测试机构连接于所述第一接口模块与电容屏之间，用于根据所述控制系统产生的控制信号对所述电容屏进行测试作业并能在测试作业完成后向所述第一接口模块发出反馈信号；

自动标记机构，所述自动标记机构包括驱动单元和标记工具，所述驱动单元与所述第二接口模块相连并能根据所述控制系统接收到的所述反馈信号驱动所述标记工具对所述电容屏进行标记作业。

进一步的，进行所述测试作业时，所述控制系统产生的控制信号由所述第一接口模块以第一电平信号发送至所述测试机构；所述测试作业完成后，所述测试机构发出的反馈信号以与所述第一电平信号相异的第二电平信号发送至所述第一接口模块；所述控制系统设有用于检测所述第一电平信号和第二电平信号之间的电平变化或跳变边沿的检测模块。

进一步的，所述控制系统还设有时间控制模块，所述时间控制模块与所述驱动单元相连以在所述标记作业完成后控制所述驱动单元关闭。

进一步的，所述驱动单元至少包括电机及由所述电机驱动的升降结构。

进一步的，所述自动标记机构还包括用于支撑所述电机和所述升降结构的支架组件，所述升降结构与所述支架组件滑动配合。

进一步的，所述升降结构还连接有限位开关，所述支架组件至少在与标记工具与电容屏能接触的对应位置设有能与所述限位开关相配合的触发结构，所述限位开关在与所述触发结构相接触时被触发而使所述升降结构相对于所述支架组件停止下降。

进一步的，所述升降结构与所述标记工具之间通过机械臂相连，所述机械臂包括与所述升降机构相连的本体及夹持机构，所述夹持机构包括对称设于所述本体上的第一夹持臂和第二夹持臂，所述第一夹持臂与所述第二夹持臂之间具有用于夹持所述标记工具的约束空间。

进一步的，所述支架组件包括垂直设于所述电容屏的安装平台上的立柱，所述第一夹持臂与所述第二夹持臂之间的所述约束空间平行于所述立柱以使所述夹持机构兼作防倾斜夹持机构。

进一步的，所述第一夹持臂和所述第二夹持臂内侧分别设有防滑结构。

进一步的，所述控制系统包括单片机。

基于上述技术方案，本发明相对于现有技术至少具有以下有益效果：

本发明的电容屏测试装置，结构简单，兼具测试功能和标记功能，利用控制系统、测试机构、驱动单元之间的信号传递，能方便控制标记工具在测试作业完成后自动进行标记作业，使整个电容屏测试环节的自动化程度提高，总体生产效率大幅提升，并且由于驱动单元是由测试机构发出的反馈信号间接控制的，故能从根本上解决漏检及漏标记问题，从而能大幅降低总体生产成本，对电容屏生产企业具有重大经济意义。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种电容屏测试装置的结构示意图；

图2为图1中机械臂的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设于”另一个元件上时，它可以直接在另一个元件上或者可能同时存在居中元件。当一个元件被称为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接另一个元件或者可能同时存在居中元件。