[发明专利]基于微结构阵列的粒子径迹探测装置在审
| 申请号： | 201710193431.8 | 申请日： | 2017-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN106908831A | 公开（公告）日： | 2017-06-30 |
| 发明（设计）人： | 庄凯;曾凡剑;赵力;王晓明;秦秀波;魏存峰;魏龙;李得天;薛玉雄;安恒;杨生胜;李毅军 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所;兰州空间技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01T5/08 | 分类号： | G01T5/08 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司11438 | 代理人： | 王辉,阚梓瑄 |
| 地址： | 100049 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 微结构 阵列 粒子 径迹 探测 装置 | ||
1.一种基于微结构阵列的粒子径迹探测装置，其特征在于，包括：
闪烁体，用于基于粒子在所述闪烁体中运动产生闪烁光；
微结构阵列，用于调制所述闪烁光，并将调制后的所述闪烁光导向一光探测元件；
所述光探测元件，用于接收调制后的所述闪烁光；
粒子径迹探测单元，用于基于所述光探测元件接收到的所述闪烁光计算出产生所述闪烁光的位置，并根据产生所述闪烁光的位置计算出粒子径迹。
2.根据权利要求1所述的基于微结构阵列的粒子径迹探测装置，其特征在于，所述微结构阵列由多个微结构组成，其中，所述多个微结构形成线阵列或面阵列。
3.根据权利要求2所述的基于微结构阵列的粒子径迹探测装置，其特征在于，所述微结构阵列覆盖在所述闪烁体的全部或部分表面。
4.根据权利要求3所述的基于微结构阵列的粒子径迹探测装置，其特征在于，所述微结构阵列通过闪烁体表面加工、闪烁体表面镀膜或将所述微结构制作为独立的器件并通过耦合介质进行耦合中的任何一种方式制成。
5.根据权利要求4所述的基于微结构阵列的粒子径迹探测装置，其特征在于，所述微结构阵列采用透镜阵列、棱镜阵列或光学调制微结构中的任意一种。
6.根据权利要求1所述的基于微结构阵列的粒子径迹探测装置，其特征在于，所述微结构阵列与所述光探测元件以紧密结合或留有间隙的方式耦合。
7.根据权利要求1所述的基于微结构阵列的粒子径迹探测装置，其特征在于，所述微结构阵列与所述光探测元件之间还包括一耦合介质。
8.根据权利要求7所述的基于微结构阵列的粒子径迹探测装置，其特征在于，所述耦合介质的种类至少为一种，其中，所述耦合介质能被所述闪烁光或者一部分所述闪烁光穿透。
9.根据权利要求1所述的基于微结构阵列的粒子径迹探测装置，其特征在于，所述微结构阵列与所述闪烁体以紧密结合或留有间隙的方式耦合。
10.根据权利要求1所述的基于微结构阵列的粒子径迹探测装置，其特征在于，所述微结构阵列与所述闪烁体通过一种或多种介质耦合。
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