[发明专利]基于光敏电阻的自动曝光检测装置及方法、平板探测器

权利要求书

1.一种基于光敏电阻的自动曝光检测装置，应用于平板探测器中，所述平板探测器至少包括TFT层，其特征在于，所述基于光敏电阻的自动曝光检测装置至少包括：

光敏电阻，其设于所述TFT层的下表面，且所述光敏电阻的面积大小等于所述TFT层的面积大小；

曝光检测电路，连接于所述光敏电阻，用于实时监测所述光敏电阻的阻值，并根据所述光敏电阻的阻值变化情况输出相应的曝光控制信号，从而实现X射线自动曝光检测功能。

2.根据权利要求1所述的基于光敏电阻的自动曝光检测装置，其特征在于，所述曝光检测电路至少包括：

光信号检测电路，连接于所述光敏电阻，用于通过所述光敏电阻检测光信号，以输出检测电压；

参考信号输出电路，用于输出参考电压；

差分放大电路，分别连接于所述光信号检测电路和所述参考信号输出电路，用于将所述检测电压和所述参考电压进行差分放大，以输出与所述光信号大小相关的电压变化信号；

可编程放大电路，连接于所述差分放大电路，用于对所述电压变化信号进行放大；

模数转换电路，连接于所述可编程放大电路，用于对放大后的电压变化信号进行模数转换，以输出相应的电压变化值；

微控制器，分别连接于所述模数转换电路和所述可编程放大电路，用于根据所述电压变化值调节所述电压变化信号的放大倍数，以得到调节后的电压变化值，然后根据所述调节后的电压变化值，计算所述光敏电阻的阻值变化值，以输出相应的曝光控制信号。

3.根据权利要求2所述的基于光敏电阻的自动曝光检测装置，其特征在于，所述微控制器至少包括：

滤波单元，连接于所述模数转换电路，用于采集所述电压变化值，并将预设时长内采集到的所有电压变化值进行平均化，以输出电压变化平均值；

调节控制单元，连接于所述滤波单元和所述可编程放大电路，用于将所述电压变化平均值与设定值进行比较，根据比较结果调节所述电压变化信号的放大倍数，以得到调节后的电压变化值；其中，在所述电压变化平均值小于第一设定值时，调节所述电压变化信号的放大倍数增大，从而控制所述电压变化信号按照增大的放大倍数进行放大并进行模数转换，进而得到调节后的电压变化值；在所述电压变化平均值大于第二设定值时，调节所述电压变化信号的放大倍数减小，从而控制所述电压变化信号按照减小的放大倍数进行放大并进行模数转换，进而得到调节后的电压变化值；其中，所述第一设定值小于所述第二设定值，所述调节后的电压变化值大于等于所述第一设定值且小于等于所述第二设定值；

判断输出单元，连接于所述滤波单元，用于根据调节后的电压变化信号的放大倍数和调节后的电压变化平均值，计算所述光敏电阻的当前阻值相对于所述光敏电阻在无光信号时的初始阻值的阻值变化值，并判断所述光敏电阻的阻值变化值是否大于预设阈值，若是则判定检测到X射线，输出曝光开始信号；在输出所述曝光开始信号后，继续判断所述光敏电阻的阻值变化值是否小于所述预设阈值，若是则判定曝光结束，输出曝光结束信号。

4.根据权利要求3所述的基于光敏电阻的自动曝光检测装置，其特征在于，所述微控制器还包括：

阈值设置单元，连接于所述判断输出单元，用于提供并根据需要设置所述预设阈值；其中，所述预设阈值大于所述光敏电阻在无光信号时的初始阻值。

5.根据权利要求2所述的基于光敏电阻的自动曝光检测装置，其特征在于，所述光信号检测电路至少包括：第一参考稳压源，连接于所述光敏电阻的一端；第一低温漂电阻，其一端连接于所述光敏电阻的另一端，其另一端接地；其中，所述检测电压为所述第一低温漂电阻两端的电压；

所述参考信号输出电路至少包括：第二参考稳压源；第二低温漂电阻，其一端连接于所述第二参考稳压源；第三低温漂电阻，其一端连接于所述第二低温漂电阻的另一端，其另一端接地；其中，所述参考电压为所述第三低温漂电阻两端的电压；

其中，所述第一参考稳压源与第二参考稳压源具有相同的电压值，所述第二低温漂电阻的阻值与所述光敏电阻在无光信号时的初始阻值相同，所述第一低温漂电阻的阻值与所述第三低温漂电阻的阻值相同。