[发明专利]差分测试探针

权利要求书

1.一种用于探测被测设备的差分测试探针，所述测试探针包括：

第一探针尖端；

第二探针尖端；

第一针体；以及

第二针体，

其中，所述第一探针尖端相对于第一旋转轴线偏心地布置；

其中，所述第二探针尖端相对于第二旋转轴线偏心地布置；

其中，第一分立电阻器被安装在所述第一探针尖端和所述第一针体之间，以及

其中，第二分立电阻器被安装在所述第二探针尖端和所述第二针体之间。

2.根据权利要求1所述的测试探针，其中，所述第一探针尖端和包括所述第一旋转轴线和所述第二旋转轴线二者的平面之间的第一倾斜角不等于零。

3.根据权利要求2所述的测试探针，其中，所述第二探针尖端和所述平面之间的第二倾斜角不等于零。

4.根据权利要求3所述的测试探针，其中，所述第二倾斜角等于所述第一倾斜角。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的测试探针，其中，所述第一分立电阻器的第一电阻值在300欧姆和370欧姆之间，以及，其中所述第二分立电阻器的第二电阻值在300欧姆和370欧姆之间。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的测试探针，其中，所述第一分立电阻器的第一电阻值为332欧姆，以及其中所述第二分立电阻器的第二电阻值为332欧姆。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的测试探针，其中，所述测试探针还包括：

第一探针套筒，以及

第二探针套筒，

其中，所述第一探针套筒以能够纵向滑动的方式支撑所述第一针体，以及

其中，所述第二探针套筒以能够纵向滑动的方式支撑所述第二针体。

8.根据权利要求7所述的测试探针，其中，所述测试探针还包括：

第一弹簧构件，以及

第二弹簧构件，

其中，所述第一弹簧构件被布置在所述第一探针套筒和所述第一针体之间，以及

其中，所述第二弹簧构件被布置在所述第二探针套筒和所述第二针体之间。

9.根据权利要求7所述的测试探针，其中，所述第一探针套筒包括第一分布式电容器，以及，其中，所述第二探针套筒包括第二分布式电容器。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的测试探针，其中，所述测试探针还包括：

第一同轴连接器，以及

第二同轴连接器，

其中，为了调整所述第一探针尖端和所述第二探针尖端之间的距离，所述第一同轴连接器相对于所述第一旋转轴线能够旋转，以及所述第二同轴连接器相对于所述第二旋转轴线能够旋转。

11.根据权利要求10所述的测试探针，其中，所述第一同轴连接器和所述第二同轴连接器以压入配合的方式彼此连接。

12.根据权利要求10或11所述的测试探针，其中，所述第一同轴连接器相对于所述第一旋转轴线旋转对称，以及，其中所述第二同轴连接器相对于所述第二旋转轴线旋转对称。

13.根据权利要求10至12中任一项所述的测试探针，其中，所述第一同轴连接器包括第一射频适配器，以及，其中所述第二同轴连接器包括第二射频适配器。

14.根据权利要求13所述的测试探针，其中，所述第一射频适配器和所述第二射频适配器的每一者是能够更换的。

15.根据权利要求13或14所述的测试探针，其中，所述第一射频适配器和所述第二射频适配器的每一者部分地或完全地被绝缘器围绕。

16.根据权利要求15所述的测试探针，其中，所述绝缘器由聚四氟乙烯制成。