[发明专利]一种便于读数的高精平整度检测装置在审
申请号: | 201710197451.2 | 申请日: | 2017-03-29 |
公开(公告)号: | CN106871869A | 公开(公告)日: | 2017-06-20 |
发明(设计)人: | 杨淑芬 | 申请(专利权)人: | 四川建筑职业技术学院 |
主分类号: | G01C9/00 | 分类号: | G01C9/00 |
代理公司: | 成都君合集专利代理事务所(普通合伙)51228 | 代理人: | 邹新华 |
地址: | 618000 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 便于 读数 平整 检测 装置 | ||
1.一种便于读数的高精平整度检测装置,其特征在于:包括设置有参考面(11)的支座(1)、设置在支座(1)上靠重力始终保持竖直的参考件(2)和若干个设置在支座(1)上用于支撑支座(1)的最底端位于同一平面的支撑杆(3);所述的参考件(2)上设有以参考面(11)为基准用于反馈平整度的刻度。
2.根据权利要求1所述的一种便于读数的高精平整度检测装置,其特征在于:所述的参考件(2)为质量分布为下重上轻、具有旋转对称轴且能够相对于支座(1)自由转动的球形零件。
3.根据权利要求2所述的一种便于读数的高精平整度检测装置,其特征在于:所述的支座(1)上设置有直径大于或等于参考件(2)直径的球面凹槽。
4.根据权利要求3所述的一种便于读数的高精平整度检测装置,其特征在于:所述的球面凹槽的直径大于参考件(2)的直径,所述的球面凹槽内设有若干个滚珠(7)。
5.根据权利要求3所述的一种便于读数的高精平整度检测装置,其特征在于:所述的球面凹槽的直径大于参考件(2)的直径;所述的球面凹槽内设有A磁铁(8),参考件(2)的外表面均匀设置有B磁铁(9)。
6.根据权利要求2、3、4、5中任一项所述的一种便于读数的高精平整度检测装置,其特征在于:所述的刻度为与参考件(2)旋转对称轴垂直的圆环形刻度线(6)。
7.根据权利要求6所述的一种便于读数的高精平整度检测装置,其特征在于:所述的参考件(2)的顶部设置有与参考件(2)旋转对称轴垂直的截面(4)。
8.根据权利要求7所述的一种便于读数的高精平整度检测装置,其特征在于:所述的截面(4)的中心处设置有指南针(5);所述的指南针(5)上方设置有水准气泡。
9.根据权利要求2、3、4、5、7、8中任一项所述的一种便于读数的高精平整度检测装置,其特征在于:所述的支座(1)为与参考件(2)同轴设置的圆柱形支撑件,所述的参考面(11)设置在支座(1)朝上的一端并且垂直于支座(1)的轴线。
10.根据权利要求9所述的一种便于读数的高精平整度检测装置,其特征在于:所述的支撑杆(3)有三个且均匀分布在支座(1)的圆周方向,支撑杆(3)的最低端为共面且与参考面(11)平行的平面。
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