[发明专利]一种参数调整方法及电子设备

权利要求书

1.一种参数调整方法，其特征在于，所述方法包括：

电子设备检测到目标指令，基于所述目标指令检测得到所述电子设备当前投射出的第一投影平面与当前发射的用于识别用户操作的第一检测平面之间的第一相对位置关系；

将所述第一相对位置关系与预设相对位置关系进行比对；其中，所述预设相对位置关系表征所述电子设备投射出的标准投影平面与所述电子设备发射的用于识别用户操作的标准检测平面之间的相对位置关系；

检测到表征所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配的比对结果，对所述预设相对位置关系进行调整，使调整后的所述预设相对位置关系与所述第一相对位置关系相匹配，以便于所述电子设备基于调整后的预设相对位置关系响应利用所述第一检测平面所检测到的实施于所述第一投影平面的用户操作。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

检测到所述电子设备从非工作状态变化到工作状态时，生成目标指令；或者，

检测到所述电子设备的位置发生变化时，生成目标指令。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取所述电子设备投射出的至少三个第一投射点的坐标信息；

根据所述至少三个第一投射点的坐标信息确定出所述电子设备投射出的第一投影平面，检测所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合；

检测得到表征所述第一投影平面与所述标准投影平面不重合的检测结果，基于检测结果生成表征所述第一相对位置关系与所述预设相对位置关系不匹配的比对结果。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述检测所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合，包括：

确定所述电子设备发射的第一检测平面与所述标准检测平面重合时，检测所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取所述电子设备投射出的至少一个第二投射点的坐标信息；

基于所述至少一个第二投射点的坐标信息，判断所述第二投射点是否落于所述第一投影平面中；

至少根据表征所述第二投射点未落于所述第一投影平面中的判断结果生成表征所述第一相对位置关系与所述预设相对位置关系不匹配的比对结果。

6.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

投影装置，用于投射第一投影平面；

传感器，用于发射识别用户操作的第一检测平面；

处理器，用于检测到目标指令，基于所述目标指令检测得到当前投射出的第一投影平面与当前发射的用于识别用户操作的第一检测平面之间的第一相对位置关系；将所述第一相对位置关系与预设相对位置关系进行比对；其中，所述预设相对位置关系表征所述电子设备投射出的标准投影平面与所述电子设备发射的用于识别用户操作的标准检测平面之间的相对位置关系；还用于检测到表征所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配的比对结果，对所述预设相对位置关系进行调整，使调整后的所述预设相对位置关系与所述第一相对位置关系相匹配，以便于所述电子设备基于调整后的预设相对位置关系响应利用所述第一检测平面所检测到的实施于所述第一投影平面的用户操作。

7.根据权利要求6所述的电子设备，其特征在于，所述处理器，还用于检测到所述电子设备从非工作状态变化到工作状态时，生成目标指令；或者，检测到所述电子设备的位置发生变化时，生成目标指令。

8.根据权利要求6或7所述的电子设备，其特征在于，所述处理器，还用于获取投射出的至少三个第一投射点的坐标信息；根据所述至少三个第一投射点的坐标信息确定出所述电子设备投射出的第一投影平面，检测所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合；检测得到表征所述第一投影平面与所述标准投影平面不重合的检测结果，基于检测结果生成表征所述第一相对位置关系与所述预设相对位置关系不匹配的比对结果。