[发明专利]分析方法、分析装置以及分析系统

说明书

本发明公开一种分析方法、分析装置以及分析系统。能够一边通过磁铁部使磁性粒子移动一边确认磁性粒子的移动。在该分析方法中，通过磁铁部(80)使包括形成在磁性粒子上的被检物质和与被检物质结合的标识物质的复合体在包括流路和检测槽的检测体盒(200)的流路中移动，对流路中的磁性粒子进行摄像，测定检测槽中的复合体中包含的标识物质的标识。

技术领域

有通过磁铁使磁性粒子移动来进行检测体分析的分析装置(例如参照美国专利申请公开第2013/0206701号说明书)。

背景技术

上述美国专利申请公开第2013/0206701号说明书公开了具备使磁性粒子在盘内移动的磁铁部的分析装置。磁铁部被固定于覆盖盘的罩。在关闭了罩的状态下，磁性粒子由于磁铁部在盘内移动。

发明内容

在上述美国专利申请公开第2013/0206701号说明书中，在关闭了罩的状态下，磁性粒子由于磁铁部在盘内移动。因此，难以确认磁性粒子的移动。

本发明面向一边通过磁铁部使磁性粒子移动一边能够确认磁性粒子的移动。

本发明的第1方案提供一种分析方法，通过磁铁部使包括形成在磁性粒子上的被检物质和与被检物质结合的标识物质的复合体在包括流路和检测槽的检测体盒的流路中移动，对流路中的磁性粒子进行摄像，测定检测槽中的复合体中包含的标识物质的标识。

本发明的第2方案提供一种分析装置，使用具备流路和检测槽的检测体盒来分析检测体中包含的被检物质，所述分析装置具备：磁铁部，使流路中的磁性粒子移动；摄像部，对流路中的磁性粒子进行摄像；测定部，测定检测槽中的复合体中包含的标识物质的标识，所述复合体包括形成在磁性粒子上的被检物质和与被检物质结合的标识物质。

本发明的第3方案提供一种分析系统，具备：检测体盒，包括流路和检测槽；磁铁部，使流路中的磁性粒子移动；摄像部，对流路中的磁性粒子进行摄像；以及测定部，测定检测槽中的复合体中包含的标识物质的标识，分析检测体中包含的被检物质，所述复合体包括形成在磁性粒子上的被检物质和与被检物质结合的标识物质。

能够一边通过磁铁部使磁性粒子移动一边确认磁性粒子的移动。

附图说明

图1是通过磁铁部使磁性粒子移动的分析装置的概略图。

图2是示出使用检测体盒的分析装置的结构例的示意图。

图3是示出检测体盒的结构例的俯视图。

图4是示出分析装置的结构例的内部正面图。

图5是示出分析装置的结构例的内部侧面图。

图6是示出分析装置的结构例的内部俯视图。

图7是用于说明分析装置的测定动作的流程图。

图8是示出磁性粒子的残留的图像例的图。

图9是示出液体收容部内的液体的图像例的图。

图10是用于说明HSL颜色空间的图。

图11是用于说明分析装置的磁性粒子区域检测处理的流程图。

图12是用于说明分析装置的流路中的气泡检测处理的流程图。

图13是用于说明分析装置的流路中的磁性粒子的残留检测处理的流程图。

图14是用于说明分析装置的残留磁性粒子的定量化处理的流程图。

图15是用于说明利用磁铁部的搅拌动作的图。

图16是用于说明分析装置的磁性粒子的搅拌效率的定量化处理的流程图。

(符号说明)