[发明专利]一种带准直器的光纤干涉式检波器装置

权利要求书

1.一种带准直器的光纤干涉式检波器装置，包括一个半导体激光器(1)、光纤环形器(2)、1×2耦合器(3)、光电探测器(13)和封装箱(15)，光纤环形器(2)的三端分别与半导体激光器(1)，1×2耦合器(3)和光电探测器(13)连接，其特征在于在封装箱内有一个由上壳体(11)和下壳体(12)组成的壳体，在壳体的垂直方向上对称固定第一光纤准直器(4)和第二光纤准直器(10)，壳体内固定一个由上质量块(6)和下质量块(8)组成的质量块，在上质量块(6)的上表面与第一光纤准直器(4)位置相对应处固定有第一法拉第旋转镜(5)，在下质量块(8)的下表面与第二光纤准直器(10)位置相对应处固定有第二法拉第旋转镜(9)，上、下质量块中间夹持固定一个弹簧片(7)，弹簧片(7)的边缘固定在壳体上；

上壳体和下壳体以及其内部结构成上下 对称设计，上质量块和下质量块完全相同；

半导体激光器发出的激光经光纤环形器进入封装箱后，首先进入1× 2耦合器被分成两束光，两束光分别入射到第一光纤准直器和第二光纤准直器内并输出两束平行光，这两束平行光分别入射到第一法拉第旋转镜和第二法拉第旋转镜上，经第一法拉第旋转镜和第二法拉第旋转镜反射后回到原光路中的两束反射光进入1× 2耦合器产生干涉现象；其中，第一法拉第旋转镜和第二法拉第旋转镜将入射光的偏振状态旋转90度，入射光及相应法拉第旋转镜的反射光不发生干涉；

当上质量块和下质量块均处于静止时，两束反射光之间没有光程差，没有干涉条纹；

当上质量块或下质量块受到外界环境影响产生向下或向上振动时，通过上质量块和下质量块的位移变化从而使得相应光纤准直器与法拉第旋转镜之间的垂直距离发生改变，两路反射光之间产生相应光程差，同时产生干涉条纹，光纤环形器的另一端与光电探测器相连，光电探测器用于探测干涉条纹相应的相位变化，最后，探测转换的电信号传送至振动信号解调模块，振动信号解调模块用于根据干涉条纹相应的相位变化求解出振动的加速度。

2.根据权利要求1所述的一种带准直器的光纤干涉式检波器装置，其特征在于半导体激光器(1)采用窄线宽半导体激光器，半导体激光器(1)的波长可以选择1310nm，1064nm，780nm，650nm。

3.根据权利要求1所述的一种带准直器的光纤干涉式检波器装置，其特征在于封装箱(15)为完全密闭。

4.根据权利要求1所述的一种带准直器的光纤干涉式检波器装置，其特征在于弹簧片(7)设计成弯曲镂空形状，以增加检波器的灵敏度。

5.根据权利要求1所述的一种带准直器的光纤干涉式检波器装置，其特征在于质量块采用上下对称的结构设计，两个质量块中间夹有弹簧片(7)，三者用螺旋连接方式紧密固定。