[发明专利]外形测量方法、外形测量设备及形变检测设备

权利要求书

1.一种外形测量方法，用以测量一待测物的外型轮廓，其特征在于，包括：

提供一光源、一透光投影膜及一图像获取装置，其中所述透光投影膜位于所述光源与所述图像获取装置之间；

置放所述待测物在所述光源与所述透光投影膜之间，并通过所述光源提供一光束至所述透光投影膜，以在所述透光投影膜上形成所述待侧物品的一待测物投影；

通过所述图像获取装置获取所述待测物投影的图像，以获得所述待测物投影的一投影尺寸；以及

依据所述待测物投影的所述投影尺寸计算出所述待测物的一测量尺寸。

2.根据权利要求1所述的外形测量方法，其特征在于，计算出所述待测物的所述测量尺寸的步骤包括：

通过所述待测物投影的所述投影尺寸及一校正参数，计算出所述待测物的所述测量尺寸。

3.根据权利要求2所述的外形测量方法，其特征在于，所述校正参数是由下列步骤所获得，包括：

置放一标准待测物在所述光源与所述透光投影膜之间，其中所述标准待测物具有一标准尺寸；

通过所述光源提供所述光束至所述透光投影膜，以在所述透光投影膜上形成一标准待测物投影；

通过所述图像获取装置获取所述标准待测物投影的图像，以获得所述标准待测物投影的所述投影尺寸；以及

比较所述标准尺寸与所述标准待测物投影的所述投影尺寸，以获得所述校正参数。

4.根据权利要求3所述的外形测量方法，其特征在于，获得所述标准尺寸的步骤包括：

通过所述图像获取装置获取一刻度尺的图像，以获得所述图像获取装置的单一像素的尺寸；以及

依据所述图像获取装置所获取的所述标准待测物投影的图像所对应的像素的数量，计算出所述标准尺寸。

5.根据权利要求1所述的外形测量方法，其特征在于，获得所述待测物投影的所述投影尺寸的步骤包括：

通过所述图像获取装置获取一刻度尺的图像，以获得所述图像获取装置的单一像素的尺寸；以及

依据所述图像获取装置所获取的所述待测物投影的图像所对应的像素的数量，计算出所述待测物投影的所述投影尺寸。

6.根据权利要求1所述的外形测量方法，其特征在于，包括通过一图像分析模块依据所述待测物的所述测量尺寸分析所述待测物的形变程度。

7.根据权利要求5所述的外形测量方法，其特征在于，所述待测物为球状物体，分析所述待测物的形变程度的步骤包括依据所述待测物的所述测量尺寸分析所述待测物的真圆度。

8.根据权利要求1所述的外形测量方法，其特征在于，包括在通过所述光源提供所述光束的同时，通过一驱动单元驱动所述待测物旋转。

9.根据权利要求7所述的外形测量方法，其特征在于，驱动所述待测物旋转的步骤包括驱动所述待测物以平行于所述透光投影膜的一转动轴线为轴旋转。

10.根据权利要求1所述的外形测量方法，其特征在于，通过所述光源提供所述光束的步骤包括通过所述光源提供具有指向性的所述光束。

11.一种外形测量装置，用以测量一待测物的外型轮廓，其特征在于，包括：

一光源，提供一光束至所述待测物；

一透光投影膜，使投射至所述待测物的所述光束，在所述透光投影膜的一侧上形成一待测物投影；

一驱动单元，其中所述驱动单元配置于一待测物置放区，且适于驱动所述待测物；以及

一图像获取装置，位于所述透光投影膜的另一侧，适于获取所述待测物投影的图像，以获得所述待测物投影的一投影尺寸。

12.根据权利要求11所述的外形测量装置，其特征在于，所述驱动单元适于驱动所述待测物以平行于所述透光投影膜的一转动轴线为轴旋转。