[发明专利]一种EAS电子标签质量参数检测仪及其检测方法

说明书

本发明公开了一种EAS电子标签质量参数检测仪及其检测方法，包括：敏感探头、信号处理模块、控制单元、人机交互接口、电源模块，所述敏感探头包括发射线圈、左接收线圈、右接收线圈，所述信号处理模块包括激励信号源单元、差分单元、真有效值检测单元、A/D转换单元。本检测仪的敏感探头结构简单，电子标签质量参数检测模型简单，通过一种基于二分法的跳频方法快速、准确地测定电子标签质量参数——谐振频率F和品质因素Q值，满足现有电子标签生产过程在线快速监测，提供反馈控制信号的需求。

技术领域：

本发明属于商品防盗系统技术领域，具体是涉及一种EAS电子标签质量参数-谐振频率F和品质因素Q值检测仪，涉及一种敏感探头结构和谐振频率F、品质因素Q值的检测方法。

背景技术：

电子商品防盗系统简称EAS，又称电子商品防窃(盗)系统，是目前大型零售行业广泛采用的商品安全措施之一。EAS主要由检测器、解码器和电子标签三部分组成。电子标签分为软标签和硬标签，软标签成本较低，直接粘附在较“硬”的商品上，软标签不可重复使用；硬标签一次性成本较软标签高，但可以重复使用。

电子标签的谐振频率F和品质因素Q是其关键质量参数。查阅现有文献，ISO/IEC18046-3-2007给出了EAS系统的标签以及防盗检测系统的基本规范要求。依据上述规范，目前电子标签的传感探头一般分为单线圈、双线圈两种结构模型。赵万年、宋小锋研究表面单线圈探头检测方法可以检测电子标签的谐振频率，但无法对其Q值和其它参数进行分析和计算。杨成忠、朱亚萍等人利用互感耦合原理建立了双线圈探头检测模型，通过此模型可以检测标签的谐振频率、Q值和有效容积等参数，而此方法也存在一些不足：1)发射线圈和电子标签耦合系数值增大，测试的中心频率发生很大的偏移；2)发射线圈和接收线圈耦合系数值逐渐增大，系统偏差减小，但整体波形的带宽发生了变化，即影响到标签Q值。为克服上述问题，公开号为CN 102735943 B的发明专利无源电子标签F及Q值检测传感器提供一种消除上述发射与接收线圈间，标签与发射和接收线圈间互相干扰问题。但是此专利传感器结构复杂，包括两个发射线圈和一个接收线圈，其发射线圈又由主发射线圈和辅发射线圈组成，接收线圈也由主发射线圈和辅发射线圈组成，其实质需要6个线圈组成一个传感器，线圈数多，制造成本高；另外，此传感器对发射、接收线圈的一致性要求高，制作工艺要求高；再则，此传感器结构没法消除地磁场的影响。申请号为201610878253.8的实用新型专利对上述专利进行改进，提出了一种四线圈探头结构，并给出了传感器检测模型，此专利的不足在于使用的线圈数还是较多，通过二阶积分电路进行前期信号处理，且此专利没有涉及后续信号处理的电路设计。另外，现有电子标签质量参数检测都是通过扫频方法，获取标签幅频特性曲线，进而得到谐振频率F和品质因素Q值，这种方法扫描时间长；在硬标签生产过程中，此方法提供的反馈信号无法满足快速定位磁棒插入深度，影响生产效率。

发明内容：

本发明的目的是针对现有技术之不足，而提出一种EAS电子标签质量参数检测仪及其检测方法，并涉及检测仪配套的传感器敏感探头结构。本检测仪结构简单，测试速度快，运行稳定，能够准确测定EAS电子标签质量参数。

为达到上述目的，本发明的技术方案如下：

一种EAS电子标签质量参数检测仪，包括敏感探头、信号处理模块、控制单元、人机交互接口、电源模块；

所述敏感探头包括发射线圈、左接收线圈、右接收线圈，所述发射线圈、所述左接收线圈、所述右接收线圈的中心位于同一轴线上，所述发射线圈位于所述左接收线圈和所述右接收线圈的中间，所述左接收线圈和所述右接收线圈的结构相同，所述左接收线圈和所述右接收线圈通过导线串联连接，当所述左接收线圈和所述右接收线圈有电流时，电流在所述左接收线圈和所述右接收线圈内的流转旋向相反；