[发明专利]显示装置、检测单元以及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及检测技术领域，特别是涉及一种显示装置、检测单元以及检测方法。

背景技术

OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)显示装置以其具有的重量轻、体积小、厚度薄等特点，已广泛地应用在各种尺寸的终端显示设备中，近几年，随着科学技术的发展，出现了一种将OLED显示装置的栅极驱动器通过掩模板镀膜技术直接制作在玻璃基板上的新型技术—GIP(Gate in Panel，面内栅极)技术。目前，GIP技术是把扫描芯片集成在OLED面板上的技术，可以达到节省扫描芯片，降低材料成本、减少工艺数量并缩短工艺时间，从而降低液晶面板成本、实现更窄边框的目的。

现有技术中，OLED显示装置封装前，在进行阵列测试(ARRAY Test)检测时，无法对于GIP电路进行检测，例如一种检测方法是：将GIP电路的第一级输出端及最后一级输出端的信号通过引线引致FPC(柔性电路板)端，然后通过测量第一级输出端及最后一级输出端的信号进行相应的判断分析。然而此种检测方法除了需要增加引线外，对于GIP电路中间部分则无法检测，举例来说，在某些情况下，当GIP电路第一级输出端的信号正常，但最后一级输出端的信号不正常时，这种检测方法则无法进行相应的分析。

此外，OLED显示装置封装后，在进行不良解析时，对于GIP电路部分，一般用显微镜进行逐级观察，效率较低。

发明内容

本发明提供一种显示装置、检测单元以及检测方法，可以快速地对GIP电路的每一级进行检测。

所述显示装置包括：至少一GIP电路、像素驱动电路以及设置在所述GIP电路和像素驱动电路之间的至少一检测单元，所述GIP电路包括N级输出端，所述像素驱动电路包括至少一个驱动边，每个所述驱动边包括N个扫描线，所述检测单元包括N个检测子单元，第n个所述检测子单元的一端连接一个所述GIP电路的第n级输出端，第n个所述检测子单元的另一端连接一个所述驱动边的第n个扫描线，其中N为大于等于2的整数，n取值为1至N的整数；

第n个所述检测子单元包括信号连接层以及位于所述信号连接层一侧的检测电极，所述信号连接层分别连接所述GIP电路的第n级输出端以及对应的所述驱动边的第n个扫描线，所述检测电极与信号连接层电导通。

进一步的，在所述显示装置中，所述信号连接层和检测电极设置有平坦化层，所述平坦化层中设置有至少一过孔，所述检测电极与信号连接层通过所述过孔电导通。

进一步的，在所述显示装置中，所述信号连接层包括依次层叠的第一信号层、介质层以及第二信号层，所述第二信号层面向所述检测电极设置，所述介质层中设置有至少一开口，所述第一信号层和第二信号层通过所述开口电导通。

进一步的，在所述显示装置中，所述第一信号层的一端与所述GIP电路的第n级的输出端相连，所述第一信号层的另一端与对应的所述驱动边的第n个扫描线相连。

进一步的，在所述显示装置中，所述第一信号层与对应的所述扫描线位于不同层，第n个所述检测子单元与对应的所述扫描线之间还设置有一个走线单元，所述走线单元包括依次层叠的第一信号连接层、绝缘层以及第二信号连接层，所述绝缘层中设置有至少一走线开口，所述第一信号连接层和第二信号连接层通过所述走线开口电导通，所述第二信号连接层与所述第一信号层位于同一层且与所述第一信号层相连，所述第一信号连接层与对应的所述扫描线位于同一层且与对应的所述扫描线相连。

进一步的，在所述显示装置中，所述像素驱动电路包括两个驱动边，两个所述驱动边分别位于所述像素驱动电路相对的两面，所述显示装置包括两个所述GIP电路，两个所述GIP电路分别连接两个所述驱动边。

进一步的，在所述显示装置中，还包括介电层和盖板，所述介电层和盖板依次覆盖于所述检测电极背离所述信号连接层的一侧。

进一步的，在所述显示装置中，所述介电层和盖板还依次覆盖于所述GIP电路和像素驱动电路上。

进一步的，在所述显示装置中，所述像素驱动电路包括两个驱动边，两个所述驱动边分别位于所述像素驱动电路相对的两面，所述显示装置包括两个所述GIP电路，两个所述GIP电路分别连接两个所述驱动边。

根据本发明的另一面，还提供一种如上任意一项所述的显示装置中的检测单元。

根据本发明的又一面，还提供一种检测方法，包括：

提供如上任意一项所述的显示装置；