[发明专利]一种相控阵雷达发射通道相位校准测试方法在审
申请号: | 201710204621.5 | 申请日: | 2017-03-31 |
公开(公告)号: | CN106842158A | 公开(公告)日: | 2017-06-13 |
发明(设计)人: | 袁朋杰;王延暴;董国;游俊;杜力;赵涛;张远安;汉鹏军;蒋明;师志荣 | 申请(专利权)人: | 西安电子工程研究所 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40 |
代理公司: | 西北工业大学专利中心61204 | 代理人: | 刘新琼 |
地址: | 710100 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 相控阵 雷达 发射 通道 相位 校准 测试 方法 | ||
技术领域
本发明属于雷达技术领域,具体涉及相控阵雷达发射通道相位校准测试,应用于相控阵雷达发射信号时不同发射通道间满足相位一致性,从而便于各发射通道发射信号在空间合成雷达设计要求的波形。
背景技术
随着微电子化和数字技术的飞速发展,为保证相控阵雷达在探测距离、波束控制和旁瓣电平等方面达到设计指标,目前常采用发射数字波束形成技术,它可以快速、灵活地实现波束扫描,并具有抗干扰能力强、可靠性好等多方面的优点,但是,由于发射通道间相位特性的不一致,导致发射波束指向不正确和旁瓣抬高等问题,这就需要通过发射通道相位校准来补偿不同发射通道间的相位差。以X波段雷达为例,假设有N个天线,即N个发射通道,目前常用发射通道相位校准测试方法原理图见图1,其中,雷达前端和远场测试系统对应的硬件连接关系见图2、图3。
在图1中,为了降低不同发射通道的天线相对X波段喇叭因距离不同而带来的相位测量误差,一般将测试系统布置在远场,这样做的好处是在不移动X波段喇叭的情况下,不同发射通道的天线相对X波段喇叭的距离近似相同,测量出来的相位差可以更准确的反映雷达不同发射通道间的相位差。假设雷达有M个工作频点,需要依次测试M个频点下N个发射通道间的相位差,一般通过对比N个发射通道发射信号与基准信号的相位差来获得N个发射通道间的相位差,进而获得N个发射通道需要补偿的相位值。下面以频点1为例介绍常用发射通道相位校准测试方法的实现过程,其它频点实现过程一样。
在雷达前端,如图2所示,信号处理机控制频率综合器产生基准信号SJ(一般为几十MHz的中频信号),作为测试发射通道相位差的基准信号,需要通过信号源1把基准信号SJ倍频到射频SJF,为了避免与雷达X波段发射信号互相干扰,可以将基准信号SJF设定在C波段,并通过C波段喇叭发射出去;在通过C波段喇叭发射基准信号SJF的同时,信号处理机控制频率综合器产生射频信号SF,并经过1分N功分器功分后输入N个T/R组件,射频信号SF在T/R组件内部进行功率放大并在信号处理机控制下通过X波段天线发射出去,为了测试N个发射通道射频信号SF相对于基准信号SJF的相位差,信号处理机控制N个发射通道依次开发射,首先让第1个发射通道开发射,这样可以保证在测试第1个发射通道发射信号相对基准信号的相位差时,不会受其它发射通道发射信号的影响。
在远场测试系统,如图3所示,X波段喇叭和C波段喇叭分别接收X波段射频信号SF和C波段基准信号SJF,受射频信号SF和基准信号SJF频率不同及示波器性能限制影响,无法在X波段或者C波段直接测试相位差,需要把射频信号SF和基准信号SJF下变频到同一中频进行相位差测试。射频信号SF输入频谱仪,频谱仪输出中频信号S0F到示波器;同时,基准信号SJF经分频工装输出基准信号SJ到信号源2,信号源2输出与信号S0F同频率的中频信号S0J到示波器,通过示波器测得信号S0F相对于信号S0J的相位差即发射通道1发射信号相对于基准信号的相位差。
重复发射通道1发射信号相对于基准信号相位差的测试过程,信号处理机控制发射通道2~发射通道N依次开发射,可得频点1时N个发射通道发射信号相对基准信号的相位差为:
则频点1时通道2~通道N相对于通道1的相位差为:
则N个发射通道在频点1时需要补偿的相位值为:
采用上述方法依次测得N个发射通道在频点2~频点M时需要补偿的相位值得到M个频点下N个发射通道需要补偿的相位值:
对于上述常用发射通道相位校准测试方法,在实际测试中容易受周围电磁环境影响,而这种影响在市区表现的更为明显,此外,基准信号SJ通过信号源1上变频、C波段发射喇叭、C波段接收喇叭和分频工装下变频再回到SJ,整个传输通道对基准信号SJ的信号质量带来一定影响,影响测试准确度。
发明内容
要解决的技术问题
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