[发明专利]一种基于多孔介质模型的细胞物理状态的表征方法有效
申请号: | 201710208656.6 | 申请日: | 2017-03-31 |
公开(公告)号: | CN107045075B | 公开(公告)日: | 2019-08-02 |
发明(设计)人: | 任克礼;韩东 | 申请(专利权)人: | 国家纳米科学中心 |
主分类号: | G01Q60/24 | 分类号: | G01Q60/24 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 汤财宝 |
地址: | 100190 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 多孔 介质 模型 细胞 物理 状态 表征 方法 | ||
1.一种细胞杨氏模量的获取方法,包括:
S1.基于待测细胞表面的加载力-时间曲线,获取待测细胞在时间为区域无穷大时的加载力与压入深度;
S2.基于待测细胞在时间为区域无穷大时的加载力与压入深度,利用赫兹模型计算得到待测细胞的杨氏模量;其中,S1具体为:
基于待测细胞表面AFM探针的形变-时间曲线,利用粘弹性模型得到待测细胞表面的加载力-时间曲线,获取待测细胞在时间为区域无穷大时的加载力与压入深度;在所述形变-时间曲线的获取中,数据采集步骤包括:退针段、静置段、近针段和松弛段;所述数据采集步骤具体为:
S11.根据待测细胞的力曲线,估测得到探针与待测细胞接触点的位置,以所述估测位置为接触点,将探针抬起置于第一高度,记为退针段,采集退针段的时间值和AFM探针Deflection变化值;
S12.在所述第一高度将探针静置,记为静置段,采集静置段的时间值和AFM探针Deflection变化值;
S13.以第一速度令探针下降第一距离,从而在细胞表面获得第一压入深度,记为近针段,采集近针段的时间值和AFM探针Deflection变化值;
S14.保持探针在所述第一压入深度不变,记录探针的松弛行为,记为松弛段,采集松弛段的时间值和AFM探针Deflection变化值。
2.根据权利要求1所述细胞杨氏模量的获取方法,其特征在于,所述数据采集步骤还包括:
以S11-S14为一个周期,重复多个周期。
3.根据权利要求1或2所述细胞杨氏模量的获取方法,其特征在于,所述第一速度至少为10μm/s。
4.一种细胞物理状态的表征方法,包括:使用杨氏模量、表观粘度和扩散系数综合表征细胞物理状态;其中,所述杨氏模量为使用权利要求1-3中任一项所述细胞杨氏模量的测量方法获得。
5.根据权利要求4所述细胞物理状态的表征方法,其特征在于,所述表观粘度为基于权利要求1-3中任一项所述细胞杨氏模量的测量方法中所述松弛段的曲线,利用粘弹性模型进行拟合获得;
和/或,
所述扩散系数为基于权利要求1-3中任一项所述细胞杨氏模量的测量方法中所述松弛段的曲线,利用多孔介质模型进行拟合获得。
6.根据权利要求4所述细胞物理状态的表征方法,其特征在于,还包括:使用综合孔隙度结合杨氏模量、表观粘度和扩散系数综合表征细胞物理状态;其中,所述综合孔隙度利用单一孔径多孔介质理论计算获得。
7.一种细胞介孔弹性或刚度的表征方法,包括:使用权利要求1-3中任一项所述细胞杨氏模量的获取方法获取细胞杨氏模量,以表征细胞的介孔弹性或刚度。
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