[发明专利]一种改进结构的仪器仪表测试探针在审

专利信息
申请号: 201710210032.8 申请日: 2017-03-31
公开(公告)号: CN108663552A 公开(公告)日: 2018-10-16
发明(设计)人: 金刚 申请(专利权)人: 成都博众鼎立科技有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 614000 四川省成都市高新*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 针套 探针组件 仪器仪表 插口 探针 测试探针 改进结构 绝缘套管 后针杆 前针杆 外螺纹 腔内 测量精度高 活动设置 精度要求 快速更换 外部设置 有效测试 焊接
【说明书】:

发明提供一种改进结构的仪器仪表测试探针,包括针套,插口,前针杆,开关,后针杆和探针组件,所述的插口设置在针套的腔内后端;所述的后针杆焊接设置在插口的后端;所述的前针杆设置在针套的腔内前端;所述的针套的中间位置设置有开关;所述的针套前端活动设置有探针组件;所述的探针组件包括探针,绝缘套管和外螺纹,所述的探针外部设置有绝缘套管;所述的探针的后端设置有外螺纹。本发明结构简单,可快速更换探针组件,能有效测试精度要求高的仪器仪表,具有小巧、使用方便、测量精度高、操作简单等优点,并能有效保护仪器仪表。

技术领域

本发明涉及电子连接器技术领域,尤其涉及一种改进结构的仪器仪表测试探针。

背景技术

目前,随着科技的不断发展,人们制造出来了越来越多,越来越精密的仪器仪表,因此对这些非常精密的仪器仪表的测试也要求越来越高,对所使用的测试探针要求各异,但是,原有的仪器仪表配有的测试探针将不再满足要求,为此人们要购买多个型号不同的探针以满足要求,不仅浪费更换探针的时间和金钱;而且现有的探针设计不合理,在测试测量时容易发生短接,对人员的技术要求较高,不能保护精密的仪器仪表和设备。

因此,发明一种改进结构的仪器仪表测试探针显得非常必要。

发明内容

为了解决上述技术问题,本发明提供一种改进结构的仪器仪表测试探针,以解决现有探针不便更换,设计不合理的问题。一种改进结构的仪器仪表测试探针,包括针套,插口,前针杆,开关,后针杆和探针组件,所述的插口设置在针套的腔内后端;所述的后针杆焊接设置在插口的后端;所述的前针杆设置在针套的腔内前端;所述的针套的中间位置设置有开关;所述的针套前端活动设置有探针组件;所述的探针组件包括探针,绝缘套管和外螺纹,所述的探针外部设置有绝缘套管;所述的探针的后端设置有外螺纹。

所述的开关包括按钮,弹簧,连接杆和导杆,所述的导杆垂直设置在连接杆的上部;所述的导杆的外部设置有弹簧;所述的导杆的上端设置有按钮。

所述的前针杆包括内孔,内螺纹,弹性元件和平面触点,所述的前针杆的前端设置有内孔;所述的内孔前端设置有内螺纹;所述的弹性元件设置在内孔的后端;所述的前针杆的后端设置有平面触点。

所述的插口具体采用香蕉插口,具有弹性好,导电及可靠性能优良,拥有强劲的超过载电流能力,应用广泛的优点。

所述的前针杆具体采用铜杆,并且铜杆上镀有一层镍,具有承载电流大,导电性能好,传输效率高的优点。

所述的绝缘套管具体采用高温热缩绝缘套管,具有绝缘性能好,不易脱落,耐高温、机械强度大、耐化学性好等优点。

所述的弹性元件具体采用铜弹性导电元件,具有导电性能好,机械强度大的优点。

所述的平面触点具体采用镀银平面触点,具有很好的导电性能,以及明亮而光泽的表面,而且银层具有很高的耐腐蚀性,电阻小、耐氧化性好、容易焊接等优点。

与现有技术相比,本发明具有如下有益效果:本发明结构简单,可快速更换探针组件,能有效测试精度要求高的仪器仪表,具有小巧、使用方便、测量精度高、操作简单等优点,并能有效保护仪器仪表。

附图说明

图1是本发明的结构示意图。

图2是本发明探针组件的结构示意图。

图3是本发明开关的结构示意图。

图4是本发明前针杆的结构示意图。

图中:

1-针套,2-插口,3-前针杆,31-内孔,32-内螺纹,33-弹性元件,34-平面触点,4-开关,41-按钮,42-弹簧,43-连接杆,44-导杆,5-后针杆,6-探针组件,61-探针,62-绝缘套管,63-外螺纹。

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