[发明专利]一种干扰测试方法及装置

说明书

本发明实施例提供了一种干扰测试方法及装置。一方面，本发明实施例通过检测待测试设备在同一频段测试信道中第一状态和第二状态的灵敏度；若第一状态和第二状态的灵敏度差值大于等于预设阈值，则获取差值大于等于预设阈值的目标频段测试信道；检测待测试设备在目标频段测试信道中第三状态的灵敏度，若第三状态的灵敏度和第一状态的灵敏度差值大于等于预设阈值，则确认目标频段测试信道的灵敏度受第一状态的干扰。本发明实施例技术方案能够克服了现有技术中对每一状态在多个频段测试信道一一进行测试时耗时长，确定干扰状态慢的问题；将两个状态的干扰测试二合为一，减少测试次数，确定目标频段测试信道，覆盖绝大多数干扰频点，减少测试时间。

【技术领域】

本发明涉及信号测试技术领域，尤其涉及一种干扰测试方法及装置。

【背景技术】

对于类似手机的电子产品在出厂前必须进行一系列功能测试，以手机为例，用以检验该手机的功能是否能正常操作。因此，手机在工厂组装出货之前，由公司内部的研发人员对该手机先进行一系列的功能测试，待测试正常后，该手机才顺利地出场销售。从而确保该手机具有稳定品质，让消费者能安心购买及使用。此外，研发人员在对手机进行测试的过程中，也可以在手机认证之前尽早发现问题，以降低取得手机许可证所需要的成本支出。

在实现本发明过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：

目前手机干扰测试，由于有很多频段的测试信道，例如在手机亮屏测试和摄像头射频灵敏度干扰测试时，需要对每一个频段的测试信道状态下的手机进行亮屏状态干扰测试，以及对每一个频段的测试信道状态下的手机进行摄像头灵敏度干扰测试，比如在亮屏状态下无干扰问题时，还需要重新对每个频段下的手机进行摄像头灵敏度干扰测试，再确认手机摄像头是否有干扰问题，浪费了大量的测试时间。

【发明内容】

有鉴于此，本发明实施例提供了一种干扰测试方法及装置，用以解决现有技术测试效率低的问题。

一方面，本发明实施例提供了一种干扰测试方法，包括：

检测待测试设备在同一频段测试信道中第一状态和第二状态的灵敏度；

若所述第一状态和第二状态的灵敏度的差值大于等于预设阈值，则获取所述差值大于等于预设阈值的目标频段测试信道；

检测所述待测试设备在所述目标频段测试信道中第三状态的灵敏度，若所述第三状态的灵敏度和所述第一状态的灵敏度的差值大于等于预设阈值，则确认所述目标频段测试信道的灵敏度受第一状态的干扰。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，在检测所述待测试设备在所述目标频段测试信道中第三状态的灵敏度之后，所述方法还包括：

若所述第三状态的灵敏度和所述第一状态的灵敏度的差值小于预设阈值，则确认所述目标频段测试信道的灵敏度受第二状态的干扰。

在检测待测试设备在同一频段测试信道中第一状态和第二状态的灵敏度之前，所述方法还包括：

预先划分多个频段测试信道。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述预设阈值为3dB。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述第一状态为待测试设备灭屏状态，所述第二状态为待测试设备开启摄像头状态，所述第三状态为待测试设备亮屏状态。

上述技术方案中的一个技术方案具有如下有益效果：