[发明专利]继电保护装置的寿命检测装置及方法

权利要求书

1.一种继电保护装置的寿命检测装置，其特征在于，包括：电源监视模块、时间测量模块、数据处理模块和存储模块，其中，

所述电源监视模块包括测温模块和电压测量模块，其中，所述测温模块设置在所述继电保护装置中每组电解电容附近，所述电压测量模块与所述继电保护装置的电压输出端相连；

所述时间测量模块用于产生时间信息，所述时间信息包括当前时间；

所述存储模块用于存储继电保护装置的电气信息和寿命信息，所述电气信息包括所述电解电容的温度以及所述继电保护装置的电压波纹，所述寿命信息包括检测时间以及继电保护装置的剩余寿命；

所述数据处理模块包括CPU主控芯片，所述CPU主控芯片分别与所述测温模块的输出端、电压测量模块的输出端、时间测量模块的输出端以及存储模块相连；

所述CPU主控芯片用于获取测温模块输出的所述电解电容的温度以及电压测量模块输出的所述继电保护装置的电压波纹，根据继电保护装置的上电次数、所述电解电容的温度以及所述继电保护装置的电压波纹计算所述继电保护装置的剩余寿命，读取所述时间测量模块产生的当前时间，将该当前时间作为检测时间，将所述剩余寿命和所述检测时间写入所述存储模块中；

所述CPU主控芯片还用于：

在根据继电保护装置的上电次数、所述电解电容的温度以及所述继电保护装置的电压波纹计算所述继电保护装置的剩余寿命时，读取继电保护装置的上电次数，根据上电次数与所述电解电容的充放电时间常数获得上电寿命损耗；利用所述电解电容的温度以及继电保护装置的电压波纹计算所述电解电容的运行寿命损耗；根据所述电解电容的预期寿命与寿命损耗总和的差值确定所述电解电容的剩余寿命，获得所述继电保护装置的剩余寿命，所述预期寿命为所述电解电容在常温下的使用寿命，所述寿命损耗总和等于所述上电寿命损耗与预设第一修正因子的积加上所述运行寿命损耗与预设第二修正因子的积。

2.根据权利要求1所述的继电保护装置的寿命检测装置，其特征在于，所述CPU主控芯片还用于在所述继电保护装置断电复位后，从存储模块中读取上一时间保存的寿命信息，如果上一时间保存的检测时间与当前时间的时间差大于预设时间，则根据上一时间保存的剩余寿命和所述时间差的差值确定当前时间所述继电保护装置的剩余寿命，将当前时间作为检测时间，与当前时间所述继电保护装置的剩余寿命一并写入所述存储模块中。

3.根据权利要求1所述的继电保护装置的寿命检测装置，其特征在于，还包括通信模块，所述通信模块与所述CPU主控芯片相连；

所述CPU主控芯片还用于将所述剩余寿命和所述检测时间通过所述通信模块发送至操作人员终端或显示终端。

4.根据权利要求1至3任一所述的继电保护装置的寿命检测装置，其特征在于，所述测温模块包括硅温度传感器，所述硅温度传感器表贴安装在每组电解电容对角线上。

5.根据权利要求1至3任一所述的继电保护装置的寿命检测装置，其特征在于，所述电源监视模块还包括变压模块、端口防护模块，所述变压模块用于将外部输入的电压转换为所述寿命检测装置的额定工作电压，所述端口防护模块用于为所述寿命检测装置提供EMC防护。

6.根据权利要求1至3任一所述的继电保护装置的寿命检测装置，其特征在于，所述时间测量模块包括：晶振和RTC芯片，所述晶振与所述RTC芯片相连。