[发明专利]一种控制方法及电子设备

说明书

本发明公开了一种控制方法及电子设备。其中，方法包括：检测电子设备处理器的第一电流；所述第一电流用于所述处理器计算功耗；所述第一电流由电压发生器为所述处理器提供；所述电压发生器还用于为所述处理器提供工作电压；利用所述第一电流，确定所述处理器的第一状态；所述第一状态表征所述处理器当前的工作状态；所述工作状态反映所述处理器当前的负载；利用确定的第一状态，控制所述电子设备调节所述处理器的第一电流，以使所述处理器根据所述第一电流确定对应的功耗，并利用确定的功耗调整激活的运算单元的数量。

技术领域

本发明涉及控制技术，尤其涉及一种控制方法及电子设备。

背景技术

随着科技的发展，人们对电子设备性能的极致追求成为了一个研究的重点。对于提高性能的方案中，提高处理器的性能(处理器超频)是提高电子设备性能的核心方案。

目前，处理器超频的控制基本上是一种被动的方式，不具有通用性，且这种方式对提高处理器的性能的效果并不明显。

发明内容

为解决现有存在的技术问题，本发明实施例提供一种控制方法及电子设备。

本发明实施例的技术方案是这样实现的：

本发明实施例提供了一种控制方法，包括：

检测电子设备处理器的第一电流；所述第一电流用于所述处理器计算功耗；所述第一电流由电压发生器为所述处理器提供；所述电压发生器还用于为所述处理器提供工作电压；

利用所述第一电流，确定所述处理器的第一状态；所述第一状态表征所述处理器当前的工作状态；所述工作状态反映所述处理器当前的负载；

利用确定的第一状态，控制所述电子设备调节所述处理器的第一电流，以使所述处理器根据所述第一电流确定对应的功耗，并利用确定的功耗调整激活的运算单元的数量。

上述方案中，当所述第一状态表征所述处理器的负载超过第一阈值时，所述方法还包括：

侦测所述处理器的第一温度；所述第一温度表征所述处理器当前的温度；

利用确定的第一状态并结合所述第一温度，控制所述电子设备调节所述处理器的第一电流，以使所述处理器根据所述第一电流确定对应的功耗，并利用确定的功耗调整激活的运算单元的数量。

上述方案中，所述利用确定的第一状态并结合所述第一温度，控制所述电子设备调节所述处理器的第一电流，包括：

判断所述第一温度是否超过预设的第二温度，得到第一判断结果；

当所述第一判断结果表征所述第一温度未超过所述第二温度时，控制所述电子设备降低所述第一电流，以使所述处理器根据所述第一电流增加激活的运算单元的数量。

上述方案中，所述利用确定的第一状态并结合所述第一温度，控制所述电子设备调节所述处理器的第一电流，包括：

判断所述第一温度是否超过预设的第二温度，得到第一判断结果；

当所述第一判断结果表征所述第一温度超过所述第二温度时，控制所述电子设备增加所述第一电流，以使所述处理器根据所述第一电流减少激活的运算单元的数量。

上述方案中，所述利用确定的第一状态，控制所述电子设备调节所述处理器的第一电流，包括：

当所述第一状态表征所述处理器的负载低于第二阈值时，控制所述电子设备降低所述第一电流，以使所述处理器根据所述第一电流增加激活的运算单元。

上述方案中，所述检测电子设备处理器的第一电流，包括：

基于负反馈方式检测所述第一电流。

上述方案中，基于负反馈方式检测所述第一电流，包括：