[发明专利]用于测试物理不可克隆功能的设备和方法

权利要求书

1.一种用于测试物理不可克隆功能(PUF)批次的唯一性的方法，所述物理不可克隆功能(PUF)批次包括一组PUF实例，所述PUF实例被实现在设备(12)中，其中，所述方法包括通过测试属于所述PUF批次的PUF实例来测试所述PUF批次的唯一性，所述PUF实例(10)被配置为接收至少一个激励并且产生一组响应，每个激励包括一组比特，每个响应包括至少一个比特并且与一个激励相对应，所述PUF实例包括电路，所述电路包括一组PUF元件(50)，每个PUF元件由与所述激励的至少一个比特相对应的至少一个输入比特来控制，其中，测试所述PUF实例的步骤包括：

将所述激励的至少一个比特应用到所述PUF实例；

确定所述PUF实例的PUF元件中的至少一些PUF元件的标识符，每个PUF元件的所述标识符是根据响应于所述激励的至少一个比特而由所述PUF元件输出的响应来确定的；

将统计随机性测试应用到标识符的群组，所述标识符的群组包括针对所述PUF元件确定的标识符中的至少一些标识符，这提供测试指示符；以及

基于所述测试指示符来测试所述PUF实例。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述PUF实例包括至少一个辅助部件(105)，所述至少一个辅助部件被布置在所述PUF中以读取每个PUF元件的输出，并且确定所述PUF元件的标识符的所述步骤包括根据读取协议来读取所述至少一些PUF元件的输出。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述读取协议是在由顺序读取协议和并行读取协议构成的群组中选择的。

4.根据权利要求2和3中的任一项所述的方法，其中，确定每个PUF元件的标识符的所述步骤，包括：

迭代地应用一组激励，并且读取响应于每个激励而由所述PUF元件输出的所述响应；

根据所述响应来确定所述PUF实例的标识符。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，由所述PUF元件输出的所述响应包括至少一个比特，并且根据所述响应确定所述PUF实例的标识符的所述步骤包括聚集针对所述一组激励读取的所述响应中的至少一些响应。

6.根据权利要求4所述的方法，其中，其进一步包括将在每个PUF元件的输出处读取的响应存储在数据结构中。

7.根据权利要求2所述的方法，其中，所述PUF实例是仲裁器PUF，其包括一组PUF元件(50)，每个PUF元件均是包括成对部件的延迟元件，每个成对部件包括至少一个切换单元(52)，所述切换单元具有用于接收信号的主输入，所述成对部件共享控制输入，所述控制输入接收与所述PUF元件相关联的所述激励的至少一个比特，所述仲裁器PUF的成对部件响应于激励定义了两个逻辑路径，所述PUF实例进一步包括：位于所述逻辑路径末端的主仲裁器单元(104)，所述主仲裁器单元用于对所述两个逻辑路径之间的模拟时间差异进行比较，并且取决于所述时间差异而产生数字输出，其中，所述辅助部件进一步包括：至少一个辅助仲裁器单元(107)，所述辅助仲裁器单元用于通过确定在每个PUF元件的成对部件处输出的两个信号之间哪个信号更快来生成比特值，在所述PUF元件的输出处的所述响应等于所述比特值。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述至少一个辅助仲裁器单元包括所述主仲裁器单元和选择器，所述选择器被配置为对选定的PUF元件的成对部件的所述输出进行选择，并且在测试模式中将所述输出发送到所述仲裁器单元。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，所述选择器由索引比特所控制，所述索引比特具有表示所述选定的PUF元件的索引的值。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述至少一个辅助仲裁器单元包括一组基本仲裁单元(108)，被布置在PUF元件的输出处的每个基本仲裁单元被配置为在测试模式中接收所述PUF元件的成对部件的输出并且生成所述比特值。