[发明专利]一种过孔的尺寸测量方法及测量设备

说明书

技术领域

本发明涉及显示面板领域，特别是涉及一种过孔的尺寸测量方法及测量设备。

背景技术

Color-filter on Array(COA)技术是将彩色滤光片与阵列基板集成在一起的集成技术。即将彩色光阻涂布于已完成的阵列基板上形成彩色滤光层，可以改善传统彩色滤光片开口率低的问题。该技术要求在制程中监控面板面内过孔直径，在测量过孔直径时，极易受到干扰，难于找准过孔边缘。

现有技术在抓取框区域只能从上到下识别波峰顺序，将第N个波峰作为边界值，由于过孔边缘容易出现多波峰，导致边界值抓取不固定，引起测量误差。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种过孔的尺寸测量方法，能够准确测量出过孔的直径。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种过孔的尺寸测量方法，包括：获取所述过孔及其周边区域的图像；在所述图像中设置一图像抓取框；沿预设方向根据所述图像的像素的灰阶绘出变化曲线；在所述变化曲线中设定中间基准点；在所述变化曲线上以所述中间基准点为起点分别向两侧搜索满足预设条件的波峰；根据所述中间基准点两侧的所述波峰之间的距离计算所述过孔沿所述预设方向的尺寸。

为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种过孔的尺寸测量设备，包括：成像设备，用于拍摄所述过孔及其周边区域的图像；存储器，用于存储预设程序；处理器，用于通过运行所述预设程序执行以下步骤：获取所述过孔及其周边区域的图像；在所述图像中设置一图像抓取框；沿预设方向根据所述图像的像素的灰阶绘出变化曲线；在所述变化曲线中设定中间基准点；在所述变化曲线上以所述中间基准点为起点分别向两侧搜索满足预设条件的波峰；根据所述中间基准点两侧的所述波峰之间的距离计算所述过孔沿所述预设方向的尺寸。

本发明的有益效果是：区别于现有技术经常出现边界值抓取不固定，引起测量误差的情况，本发明通过设置变化曲线上的基准点，找到离基准点最近的两个波峰，且波峰的峰值要大于阈值，确保抓取的边界为过孔的边界，就能准确测量过孔的直径。

附图说明

图1是本发明过孔的尺寸测量方法实施方式的流程图；

图2是本发明过孔的尺寸测量设备实施方式的示意图；

图3是本发明以图像抓取框的几何中心设置中间基准点的图像处理的示意图；

图4是本发明以过孔的几何中心设置中间基准点的图像处理的示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，均属于本发明保护的范围。

请参阅图1，图1是本发明过孔的尺寸测量设备。如图2所示，过孔的尺寸测量设备包括成像设备10、处理器20、储存器30。处理器20连接着成像设备10和储存器30。成像设备10用于获取待测过孔及其周边区域的图像，处理器20用于控制成像设备10获取图像，同时对成像设备10获取的图像进行分析，通过分析测得到过孔的直径尺寸。储存器30用于存储预设程序，处理器20通过调用存储在储存器30中的预设程序完成整个测量工作。

请结合参阅图1和图2，图2是本发明过孔的尺寸测量方法实施方式的流程图。

本发明过孔的尺寸测量方法包括以下步骤：

S101：获取所述过孔及其周边区域的图像。

具体地说，成像设备10在处理器20的控制下对过孔及其周边区域进行拍照，拍照时需注意让过孔处于照片的中心位置，过孔周围都需要留出足够空间，以便后续分析照片时有足够的采样空间。

S102：在所述图像中设置一图像抓取框。

具体地说，成像设备10拍摄到的图像由处理器20进行分析，首先在图像中设置一图像抓取框，图像抓取框位置由测试人员设置，需注意使得图像抓取框的边缘尽量将过孔包含进去。

S103：沿预设方向根据所述图像的像素的灰阶绘出变化曲线。

具体地说，预设方向为图像的垂直方向，绘制曲线的依据是图像相邻两边的灰度差异，在一个实施例中，可以将图像平均分为若干等分，根据相邻的两等分之间的差值绘制曲线。若相邻的两等分之间灰度值差距大，则绘制出的曲线峰值高；若相邻的两等分之间灰度值差距小，则绘制出的曲线峰值低。

S104：在所述变化曲线中设定中间基准点。