[发明专利]电子设备、POS机的跌落损伤应变测试装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及应变测试领域，尤其涉及一种电子设备、POS机的跌落损伤应变测试装置及方法。

背景技术

目前电子设备在不同高度跌落后，为了检查电子设备内部的硬件模块是否损坏基本是通过驱动电子设备，驱动后进行各个硬件模块的功能测试，进而判断硬件模块是否受损，一旦硬件模块受损，就会影响其使用寿命，但上述的测试方法存在以下缺点：

1、市场上存在某些芯片，跌落后虽然受到损伤，但并不影响芯片的正常功能，此时就无法通过功能测试去判断芯片是否损伤；

2、电子设备的跌落损伤是概率性事件，目前没有量化数据体现跌落损伤的风险高低。

POS机是一种电子设备，在金融支付领域，POS机已经得到普遍的应用，在使用过程中不可避免存在跌落的可能，若跌落，很可能会导致正在支付过程中的交易数据丢失或出错，给用户造成不可弥补的损失，因此，有必要提供一种电子设备、POS机的跌落损伤应变测试装置及方法。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种能够准确判断跌落是否受损的电子设备、POS机的跌落损伤应变测试装置及方法。

为了解决上述技术问题，本发明采用的第一技术方案为：

一种电子设备的跌落损伤应变测试装置，包括电子设备和用于模拟电子设备跌落过程的试验机，所述电子设备内设有待测试模块，还包括：应变片、数据采集卡和处理器；

所述应变片设置在电子设备内且与待测试模块之间设有固定间隔，用于获取待测试模块的应变值；

所述数据采集卡包括采集端和输出端，所述采集端与应变片连接，用于模拟电子设备跌落过程时，采集应变片获取到的待测试模块的应变值；

所述输出端与处理器连接，所述处理器，用于将输出端发送的待测试模块的应变值与预设的待测试模块对应的应变损伤标称值对比，若所述应变值大于应变损伤标称值，则所述待测试模块损伤风险高；若所述应变值小于应变损伤标称值，则所述待测试模块损伤风险低。

本发明采用的第二技术方案为：

一种POS机的跌落损伤应变测试装置，包括POS机和用于模拟POS机跌落过程的试验机，所述POS机内设有待测试模块，还包括：应变片、数据采集卡和处理器；

所述应变片设置在POS机内且与待测试模块之间设有固定间隔，用于获取待测试模块的应变值；

所述数据采集卡包括采集端和输出端，所述采集端与应变片连接，用于模拟POS机跌落过程时，采集应变片获取到的待测试模块的应变值；

所述输出端与处理器连接，所述处理器，用于将输出端发送的待测试模块的应变值与预设的待测试模块对应的应变损伤标称值对比，若所述应变值大于应变损伤标称值，则所述待测试模块损伤风险高；若所述应变值小于应变损伤标称值，则所述待测试模块损伤风险低。

本发明采用的第三技术方案为：

一种POS机的跌落损伤应变测试方法，包括：

当POS机跌落过程时，采集POS机内的待测试模块的应变值；

将所述应变值与预设的待测试模块对应的应变损伤标称值对比，若所述应变值大于应变损伤标称值，则所述待测试模块损伤风险高；若所述应变值小于应变损伤标称值，则所述待测试模块损伤风险低。本发明的有益效果在于：

本发明提供的一种电子设备、POS机的跌落损伤应变测试装置及方法，通过在电子设备内的待测试模块周围设置应变片，当电子设备在不同高度跌落后，应变片会获取待测试模块的应变值，通过数据采集卡将应变值发送至处理器，处理器将应变值与预设的待测试模块对应的应变损伤标称值对比，若应变值大于应变损伤标称值，则说明待测试模块损伤风险高，则属于不合格产品，不允许出厂；若应变值小于应变损伤标称值，则说明所述待测试模块损伤风险低，则属于合格产品，允许出厂，从而不仅能够判断待测试模块是否受到损伤，有效评估电子设备的抗跌落能力，并且还能够提供该电子设备跌落损坏风险高低的量化数据。

上述的电子设备可以是POS机，待测试模块可以是内部芯片，通过上述的测试装置及方法能够判断POS机内部芯片是否受到损伤，有效评估POS机的抗跌落能力，并能够提供该POS机跌落损坏风险高低的量化数据。

附图说明

图1为本发明的一种电子设备的跌落损伤应变测试装置的结构示意图；

图2为本发明的一种电子设备的跌落损伤应变测试装置的应变片的分布示意图；

图3为本发明的POS机的跌落损伤应变测试方法的步骤流程图；

标号说明：