[发明专利]一种盾构机壳体的校正工装及校正盾构机壳体的方法有效

专利信息
申请号: 201710226917.7 申请日: 2017-04-06
公开(公告)号: CN107030142B 公开(公告)日: 2019-06-21
发明(设计)人: 涂泽文;赵金明;王法斌;高兵 申请(专利权)人: 武汉船用机械有限责任公司
主分类号: B21D3/00 分类号: B21D3/00;B21C51/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 徐立
地址: 430084 *** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 盾构 机壳 校正 工装 方法
【权利要求书】:

1.一种盾构机壳体的校正工装,适用于盾构机壳体的精细校正,其特征在于,所述盾构机壳体的校正工装包括:支撑组件和校正组件,所述支撑组件包括:基准柱和基准座,所述基准柱的第一端安装在所述基准座上,且所述基准柱的轴线与所述基准座的中心线重合,所述基准柱的外壁上沿所述基准柱的径向方向开设有多个安装孔;

所述校正组件包括:第一基准环、第二基准环、定位组件、多个支撑杆和多个调节支撑杆,所述第一基准环与所述第二基准环同心布置,且所述第一基准环的外环直径小于所述第二基准环的内环直径,每个所述支撑杆的第一端均固定在所述第一基准环上,每个所述支撑杆的第二端均固定在所述第二基准环上,且所述支撑杆的轴线与所述第二基准环的半径重合,所述定位组件插装在所述安装孔内,所述第一基准环套装在所述基准柱的外壁上且通过所述定位组件支撑,所述定位组件插装在对应的所述安装孔上并支撑所述第一基准环,多个所述调节支撑杆分别沿所述第二基准环的圆周方向活动安装在所述第二基准环上,多个所述调节支撑杆的第一端围成圆形,所述圆形的半径与所述盾构机壳体的内壁半径相同,且所述调节支撑杆被配置为沿所述盾构机壳体的径向方向支撑在所述盾构机壳体的内壁上;

所述调节支撑杆包括螺栓,所述第二基准环上对应每个所述调节支撑杆的位置分别设置有安装板,所述安装板上开设有与所述螺栓相配合的螺栓孔,所述螺栓通过所述螺栓孔安装在所述安装板上。

2.根据权利要求1所述的盾构机壳体的校正工装,其特征在于,所述支撑杆上沿所述支撑杆的轴线方向设置有定位线。

3.根据权利要求1所述的盾构机壳体的校正工装,其特征在于,所述第一基准环包括:第一基准板、第二基准板和基准套筒,所述第一基准板和所述第二基准板均为圆环形,且所述第一基准板和所述第二基准板分别套设在所述基准套筒的两端,所述支撑杆的第一端装夹固定在所述第一基准板和所述第二基准板之间。

4.根据权利要求1所述的盾构机壳体的校正工装,其特征在于,所述基准柱与所述基准座之间固定有加强筋。

5.根据权利要求1所述的盾构机壳体的校正工装,其特征在于,所述基准座为圆形座,所述基准柱为圆柱型,且所述基准座的中心线与所述基准柱的轴线重合,所述基准柱的第二端的圆心上设置有定位点。

6.一种采用如权利要求1-5任一项所述的校正工装校正盾构机壳体的方法,其特征在于,所述方法包括:

测量所述盾构机壳体沿所述盾构机壳体的外壁的周长;

在工作台上绘制出基准圆的轮廓线,所述基准圆的周长与所述盾构机壳体的外壁的周长相同,并标记出所述基准圆的圆心;

将所述盾构机壳体的外壁对应所述基准圆的轮廓线布置;

将所述校正工装的基准柱与所述基准圆的圆心对齐,并使多个所述调节支撑杆的第二端分别沿所述盾构机壳体的径向方向支撑在所述盾构机壳体的内壁上;

沿所述支撑杆的轴向方向测量所述盾构机壳体的内圆半径;

若所述盾构机壳体的内圆半径处于设定数值范围外,则根据测得的所述盾构机壳体的内圆半径判断所述盾构机壳体上待校正的部位,通过所述调节支撑杆支撑所述盾构机壳体进行校正。

7.根据权利要求6所述的校正盾构机壳体的方法,其特征在于,所述将所述校正工装的基准柱与所述基准圆的圆心对齐,包括:

测量所述基准座的直径,以所述基准圆的圆心为中心绘制出与所述基准座的外轮廓形状相同的基准座轮廓线,将所述基准座按照所述基准座轮廓线布置,使所述基准圆的圆心与所述盾构机壳体的校正工装对齐。

8.根据权利要求6所述的校正盾构机壳体的方法,其特征在于,所述沿所述支撑杆的轴向方向测量所述盾构机壳体的内圆半径,包括:沿所述支撑杆的轴向方向,测量所述支撑杆的第一端到所述盾构机壳体的内壁的距离A,所述盾构机壳体的内圆半径d=A+B,其中,B为所述第一基准环的半径。

9.根据权利要求6所述的校正盾构机壳体的方法,其特征在于,校正所述盾构机壳体的方法还包括:通过火焰校正法对所述盾构机壳体进行校正,若待校正的部位向所述盾构机壳体的内部凹陷,则在所述火焰校正时通过所述调节支撑杆将凹陷的部位顶出;若待校正的部位向所述盾构机壳体的外部突出,则所述火焰校正时通过所述调节支撑杆支撑在所述盾构机壳体的内壁上,向突出的部位施加外力。

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