[发明专利]X射线球管的管电流计算方法和设备有效
申请号: | 201710235211.7 | 申请日: | 2017-04-12 |
公开(公告)号: | CN108693394B | 公开(公告)日: | 2020-06-26 |
发明(设计)人: | 王梦俊;黄勇;汪大任;顾文浩 | 申请(专利权)人: | 上海西门子医疗器械有限公司 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00;A61B6/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201318 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 电流 计算方法 设备 | ||
1.一种X射线球管的管电流计算方法,用于一管电流采样电路,包括:
获取流过所述管电流采样电路中的管电流采样电阻的电流ImA;
获取流过所述管电流采样电路中的补偿电容的电流Icomp;
获取流过所述管电流采样电路中的高压线缆寄生电容的电流Irc;以及
根据电流ImA、Icomp以及Irc计算所述X射线球管的管电流Itube,包括以积分方式计算所述X射线球管的管电流时间积:
∫Itube(t)dt=∫ImA(t)dt+∫Icomp(t)dt-∫Irc(t)dt
其中,∫Itube(t)dt表示管电流时间积,∫ImA(t)dt表示管电流采样电阻的电流时间积,∫Icomp(t)dt表示补偿电容的电流时间积,∫Irc(t)dt表示高压线缆寄生电容的电流时间积。
2.如权利要求1所述的X射线球管的管电流计算方法,其中,获取流过所述管电流采样电路中的管电流采样电阻的电流ImA包括如下步骤:
采集所述管电流采样电路中的管电流采样电阻两端的电压值Us;
获取所述管电流采样电路中的管电流采样电阻的阻值Rs;以及
根据所述管电流采样电阻两端的电压值Us和所述管电流采样电阻的阻值Rs计算流过所述管电流采样电阻的电流时间积∫ImA(t)dt。
3.如权利要求2所述的X射线球管的管电流计算方法,其中,通过如下公式计算流过所述管电流采样电阻的电流时间积∫ImA(t)dt:
4.如权利要求2所述的X射线球管的管电流计算方法,还包括:
获取所述补偿电容的电容值Ccomp;以及
根据所述补偿电容的电容值Ccomp和所述管电流采样电阻两端的电压值Us计算流过所述补偿电容的电流时间积∫Icomp(t)dt。
5.如权利要求4所述的X射线球管的管电流计算方法,其中,通过如下公式计算流过所述补偿电容的电流时间积∫Icomp(t)dt:
∫Icomp(t)dt=∫Ccomp*Us(t)。
6.如权利要求1所述的X射线球管的管电流计算方法,还包括:
根据所述高压线缆的长度值计算所述高压线缆寄生电容的电容值Crc。
7.如权利要求6所述的X射线球管的管电流计算方法,还包括:
采集所述X射线球管的管电压值UKV;以及
根据所述管电压值UKV和高压线缆寄生电容的电容值Crc计算经过所述高压线缆寄生电容的电流时间积∫Irc(t)dt。
8.如权利要求7所述的X射线球管的管电流计算方法,其中,通过如下公式计算经过所述高压线缆寄生电容的电流时间积∫Irc(t)dt:
∫Irc(t)dt=∫Crc*UkV(t)。
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