[发明专利]一种误差校正控制系统、β测尘仪消除滤带误差的方法有效
申请号: | 201710235234.8 | 申请日: | 2017-04-12 |
公开(公告)号: | CN107063954B | 公开(公告)日: | 2019-08-06 |
发明(设计)人: | 敖小强;许敬之;罗武文 | 申请(专利权)人: | 北京雪迪龙科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06 |
代理公司: | 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) 11446 | 代理人: | 武玉琴;冷文燕 |
地址: | 102206 北京市昌*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 滤带 校正值计算模块 计算模块 空白基准 控制系统 确认模块 输出模块 误差校正 测尘仪 基准点 集尘量 颗粒物 采样 定标 校正 可吸入颗粒物 标准膜片 定标数据 计数基准 输出误差 外部条件 质量误差 质量增量 不均匀 吸收式 质量差 储存 | ||
1.一种用于β测尘仪的误差校正控制系统,其特征在于,所述系统包括定标模块、空白基准确认模块、校正值计算模块、单位面积集尘量计算模块、颗粒物浓度输出模块;其中,
所述定标模块,用于对测量得到的空白滤带计数值和标准膜片计数值进行处理,得到所述空白滤带计数值平均值Nj1以及所述标准膜片计数值平均值Nj2、并求得仪器修正系数K值、所述标准膜片的单位面积质量并储存;
所述空白基准确认模块将所述空白滤带计数值平均值Nj1设定为整条滤带的空白计数基准值,将所述空白计数基准值对应的空白质量设定为所述基准点;
所述校正值计算模块,将采样前的空白滤带质量mi与所述基准点的质量m差值Δmd设定为校正值,所以滤带任意点质量mi=m±Δmd;当仪器在滤带任意点计数N1结束,上述质量差值可用式Δmd=1/k ln(Nj1/N1)计算;
所述单位面积集尘量计算模块,接收采样后的样品滤带计数值N2并调用仪器修正系数以计算质量增量,然后用Δmd进行误差校正,按式Δm={1/k ln(Nj1/N2)}-{±Δmd}求得单位面积集尘量;
所述颗粒物浓度输出模块根据所述单位面积集尘量,求得校正后的可吸入颗粒物浓度。
2.一种包括权利要求1所述误差校正控制系统的测尘仪,其特征在于,所述测尘仪还包括泵控制器、采样测量装置、显示器;其中,
所述泵控制器用于接收开关指令,并发出开始或停止测量的信号传至所述采样测量装置;
所述采样测量装置接收开始测量信号,用于空白滤带及其增量、以及标准膜片的测量,得到所述空白滤带计数值、所述采样后的滤带计数值和所述标准膜片计数值,并将测量得到的数据传至所述误差校正控制系统;接收停止测量信号,停止测量;
误差校正控制系统对来自所述采样测量装置的数据进行处理,得到校正后的可吸入颗粒物浓度;
所述显示器能用于接收并显示所述可吸入颗粒物浓度的数值。
3.根据权利要求2所述的测尘仪,其特征在于,
所述采样测量装置包括气路管道、β放射源、探测器、输出管道、抽气泵、滤带;其中,
所述气路管道设有采样入口和采样出口,所述采样出口连接所述输出管道,所述输出管道出口处设置有所述抽气泵;
所述气路管道内部还设有所述β放射源,所述β放射源下方设有所述滤带,所述滤带下方设有所述探测器,所述探测器与所述β放射源相对设置并分别于所述滤带相距一定距离,所述滤带位置能够放置空白滤带或标准膜片;
所述抽气泵经所述泵控制器与所述误差校正控制系统连接,所述误差校正控制系统和所述探测器以及所述显示器均相连。
4.一种利用权利要求1所述误差校正控制系统消除滤带质量误差的方法,其特征在于,包括步骤:
A定标:对测量得到的空白滤带计数值和标准膜片计数值进行处理,得到所述空白滤带计数值平均值Nj1以及所述标准膜片计数值平均值Nj2、并求得仪器修正系数K值、所述标准膜片的单位面积质量并储存;
B确认空白基准:将所述空白滤带计数值平均值Nj1设定为整条滤带的空白计数基准值,将所述空白计数基准值对应的空白质量设定为所述基准点;
C计算校正值:将采样前的空白滤带质量mi与所述基准点的质量m差值Δmd设定为校正值,所以滤带任意点质量mi=m±Δmd;当仪器在滤带任意点计数N1结束,上述质量差值可用式Δmd=1/k ln(Nj1/N1)计算;
D计算单位面积集尘量:接收采样后的样品滤带计数值N2并调用仪器修正系数以计算质量增量,然后用Δmd进行误差校正,按式Δm={1/k ln(Nj1/N2)}-{±Δmd}求得单位面积集尘量;
E输出颗粒物浓度:根据所述单位面积集尘量,计算校正后的可吸入颗粒物浓度。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述步骤A中定标的周期不低于10次,计数时间为2-5min。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述标准膜片为聚酯膜片。
7.一种利用权利要求2或3所述测尘仪的测尘方法,其特征在于,所述测尘方法包括步骤:
A发出开始或停止测量信号:所述泵控制器接收开关指令,并发出开始或停止测量的信号传至所述采样测量装置;
B定标测量:采样测量装置接收所述开始测量的信号后,进行空白滤带计数值和标准膜片计数值的测量;接收停止测量信号后,停止测量;
C定标:对测量得到的空白滤带计数值和标准膜片计数值进行处理,得到所述空白滤带计数值平均值Nj1以及所述标准膜片计数值平均值Nj2、并求得仪器修正系数K值、所述标准膜片的单位面积质量并储存;
D确认空白基准:将所述空白滤带计数值平均值Nj1设定为整条滤带的空白计数基准值,将所述空白计数基准值对应的空白质量设定为所述基准点;
E计算校正值:将采样前的空白滤带质量mi与所述基准点的质量m差值Δmd设定为校正值,所以滤带任意点质量mi=m±Δmd;当仪器在滤带任意点计数N1结束,上述质量差值可用式Δmd=1/k ln(Nj1/N1)计算;
F计算单位面积集尘量:接收采样后的样品滤带计数值N2并调用仪器修正系数以计算质量增量,然后用Δmd进行误差校正,按式Δm={1/k ln(Nj1/N2)}-{±Δmd}求得单位面积集尘量;
G输出颗粒物浓度:根据所述单位面积集尘量,计算校正后的可吸入颗粒物浓度并传至显示器显示。
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