[发明专利]测试治具及测试系统

说明书

本发明公开了一种测试治具，包括：接口模块，经由串行数据总线与相邻的测试治具连接；串行存储器，用于存储待更新的编码数据；现场可编程门阵列模块，与所述接口模块和串行存储器连接，用于根据控制信号从所述串行存储器获取待更新的编码数据，并经由接口模块发送至相邻的测试治具。本发明实施例还提供一种测试系统，将多个测试治具通过串行数据总线连接，从已更新测试治具中获取待更新编码数据，并将所述待更新编码数据经由串行数据总线传输给相邻的待更新测试治具进行更新，可以便捷的完成多个测试治具的更新，提高效率。

技术领域

本发明属于测试治具领域，更具体地，涉及一种测试治具及测试系统。

背景技术

电子产品的测试治具绝大多数都会使用可编程器件，其中，可编程器件大部分为FPGA(Field Programmable Gate Array)，即现场可编程门阵列。由于测试的产品不同，测试治具的FPGA程序会进行频繁的程序烧录。

图1示出了现有技术中测试治具的结构图。如图1所示，该测试治具10’包括串口模块11’、FPGA模块12’以及串行存储器13’，该测试治具10’通过串口模块11’从计算机20’获取编码数据，FPGA模块12’将该编码数据写入存储该编码数据的串行存储器13’中，即EPCS(Erasable programmable configurable serial)存储器。

目前，当测试治具10’中的编码数据需要更新时，则需通过串口模块11’(包括USB接口)从计算机20’重新获取配置数据，以实现对配置数据的更新。若多个测试治具的FPGA程序需要更新时，则每一个测试治具均需要人为进行逐一更新操作，并且一次只能更新一个测试治具。而且更新的过程中必须在有电脑的情况下完成。如果测试治具数目较多的话，还需将测试治具拿到电脑所在的位置，并且逐一手动将已更新测试治具与电脑断开，然后与未更新的测试治具连接进行更新，耗时耗力。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测试治具及系统。

根据本发明的一方面，提供一种测试治具，包括：接口模块，经由串行数据总线与相邻的测试治具连接；串行存储器，用于存储待更新的编码数据；现场可编程门阵列模块，与所述接口模块和串行存储器连接，用于根据控制信号从所述串行存储器获取待更新的编码数据，并经由接口模块发送至相邻的测试治具。

优选地，所述接口模块为通用异步收发接口。

优选地，所述测试治具还包括：使能模块，用于向所述现场可编程门阵列模块提供控制信号。

优选地，所述现场可编程门阵列模块包括：控制单元，与所述串行存储器连接，用于对所述串行存储器进行读取操作或写入操作；数据缓存器，与所述控制单元连接，用于缓存从所述串行存储器中获取的待更新的编码数据。

优选地，所述数据缓存器还用于缓存从相邻的测试治具获取的待更新的编码数据。

优选地，所述现场可编程门阵列模块还用于将从相邻的测试治具获取的待更新的编码数据写入所述串行存储器进行更新。

优选地，所述测试治具还包括：指示模块，用于在所述待更新的编码数据写入所述串行存储器后提供指示信号。

优选地，所述串行存储器为EPCS存储器。

优选地，所述数据缓存器为FIFO存储器。

根据本发明的另一方面，提供一种测试系统，包括多个上述所述的测试治具，其中，多个测试治具之间通过串行数据总线连接，从已更新测试治具中获取待更新编码数据，并将所述待更新编码数据经由串行数据总线传输给相邻的待更新测试治具进行更新。