[发明专利]用于芯片的测试插座

说明书

本发明涉及一种用于芯片的测试插座，其包括：凹部，其用于放置所述芯片；和两个推动机构。所述凹部被四个区段包围。所述两个推动机构分别布置于两个相邻区段处。所述两个推动机构中的每一个包括：推按按钮，其中所述推按按钮的底部连接到垂直弹性部件；推动器，其与所述推按按钮相互配合运作，其中所述推动器的一端延伸到所述凹部中，且所述推动器的相对端连接到横向弹性部件。当所述垂直弹性部件向上推动所述推按按钮时，所述推按按钮的顶部从所述区段的顶部表面突出，且所述推动器将与所述推按按钮接合。当按压所述推按按钮并使其向下移动时，所述横向弹性部件推动所述推动器朝向所述凹部移动。

技术领域

本发明涉及一种用于芯片的测试插座，更确切地说，涉及一种用于定位将被测试的芯片的设备。

背景技术

用于芯片的常规测试插座在同一水平面处需要分别由两个气压缸驱动的两个推动器。当芯片安置于测试插座内时，两个气压缸将分别驱动两个推动器，使得两个推动器推动芯片在X轴方向和Y轴方向上移动直到芯片正确地定位为止。

然而，由于推动器受气压缸驱动，所以常规测试插座需要用于接纳气压缸的较大空间。因此，常规测试插座的大小通常都很大。

发明内容

根据本发明的一个示范性实施例，一种用于芯片的测试插座包括：凹部，其用于接纳所述芯片；第一推动机构；和第二推动机构。所述凹部被第一区段、第二区段、第三区段和第四区段包围，其中所述第一区段连接到所述第二区段和所述第四区段，且所述第三区段连接到所述第二区段和所述第四区段。

所述第一推动机构布置于所述第一区段处且包括第一推按按钮、第一垂直弹性部件、第一推动器和第一横向弹性部件。所述第一推按按钮具有在其顶部处的第一突出部。所述第一垂直弹性部件连接到所述第一推按按钮的底部。所述第一推动器与所述第一推按按钮相互配合运作，其中所述第一推动器具有延伸到所述凹部中的第一推动端。所述第一横向弹性部件连接到所述第一推动器的第一邻接端，其中所述第一邻接端与所述第一推动端相对。

当没有力施加到所述第一推按按钮时，所述第一垂直弹性部件向上推动所述第一推按按钮，使得所述第一突出部从所述第一区段的顶部表面突出，且所述第一推按按钮与所述第一推动器接合，使得所述第一横向弹性部件无法推动所述第一推动器。当按压所述第一推按按钮的所述第一突出部时，所述第一推按按钮向下移动，且所述第一横向弹性部件推动所述第一推动器朝向所述凹部移动。

所述第二推动机构布置于所述第二区段处且包括：第二推按按钮、第二垂直弹性部件、第二推动器和第二横向弹性部件。所述第二推按按钮具有在其顶部处的第二突出部。所述第二垂直弹性部件连接到所述第二推按按钮的底部。所述第二推动器与所述第二推按按钮相互配合运作，其中所述第二推动器具有延伸到所述凹部中的第二推动端。所述第二横向弹性部件连接到所述第二推动器的第二邻接端，其中所述第二邻接端与所述第二推动端相对。

当没有力施加到所述第二推按按钮时，所述第二垂直弹性部件向上推动所述第二推按按钮，使得所述第二突出部从所述第二区段的顶部表面突出，且所述第二推按按钮与所述第二推动器接合，使得所述第二横向弹性部件无法推动所述第二推动器。当按压所述第二推按按钮的所述第二突出部时，所述第二推按按钮向下移动，且所述第二横向弹性部件推动所述第二推动器朝向所述凹部移动。

根据本发明的另一示范性实施例，一种用于芯片的测试插座包括用于接纳所述芯片的凹部和两个推动机构。所述凹部被四个区段包围。所述两个推动机构分别布置于两个相邻区段处。所述两个推动机构中的每一个包括：推按按钮和与所述推按按钮相互配合运作的推动器，其中所述推按按钮的底部连接到垂直弹性部件，且其中所述推动器的一端延伸到所述凹部中，且所述推动器的相对端连接到横向弹性部件。当所述垂直弹性部件向上推动所述推按按钮时，所述推按按钮的顶部从所述区段的顶部表面突出，且所述推动器将与所述推按按钮接合。当按压所述推按按钮并使其向下移动时，所述横向弹性部件推动所述推动器朝向所述凹部移动。